ICP—OES信号漂移的时间函数校正研究.pdfVIP

第35卷第2期 中国测试 V01．35 N0．2 2009年 3月 CHINA MEASUREMENT 1EST Mar．20o9 ICP—OES信号漂移的时间函数校正研究 李海峰 (中国计量科学研究院，北京 100013) 摘 要：通过建立漂移与时间的线性或非线性函数关系，可对测量数据进行合理校正，提高分析测试的准确度 和精密度 。结果表明，校正函数与谱线选择有关，通过本方法校正可提高分析测试的精密度约 l0倍，达到 0．07％ 0．09％。通过方法验证，表明预测值与实测值基本一致 ，应用该方法是可行的。该方法可对大批量数据进行 快速、方便的漂移校正，有效提高分析测试的准确度和精密度。 关键词：标准物质；内标；仪器分析；电感耦合等离子体发射光谱仪；汞 中图分类号：TP207．1：ⅡI744．1 文献标识码 ：A 文章编号：1674-5124(2009)02--0O11-03 Studyon timefunction revision of ICP-OES signaldrift LIHai-feng (NationalInstituteofMetrology，~ijins100013，China) Abstract：The~nearornon-linearfunctional formulaWaSused tocorrectdatareasonably to increase accuracy and precision．1rIleresults show that也eformula coir~latewith analysis line．The accuracywasabout0．07％-4)．o9％， 10-fold or so increased．Through validating the mehtod，hte data measured Was coincidde wiht htatpredictde ， which showde htathtis metllod Was ~asible in driftcorrection．Th us。 this mehtod can be applide ot analysis amoun~ ofdam，nicreasinganalysisaccuracy andprecision． Key words：Certifide referencematerials；Internal standard；Instrumentna alysis；ICp-OES；Mercury 1 引 言 标法、单点法、连续本底校正嗍等。内标法是补偿易 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP—OES)是 目 电离元素引起的非光谱干扰的方法之一，可同时对 前应用广泛，研究比较深入的一类仪器 【，一个常 仪器漂移和基体干扰进行校正[9-tol，但过程烦琐，对 见问题是仪器的漂移。从概念讲，漂移是指基线或 操作的要求很高。此外，内标元素与待测元素毕竟 基流朝某一个方向缓慢变化的现象4【】。对发射光谱 不同，激发电离过程中谱线强度和影响因素各异， 仪，漂移一般包括了背景噪声以及信号的变化或强 很多方面还解释不清。单点法可以获得满意的结果， 度比的变化。温度、电源及射频、氩气、冷却水、峰位 但工作量较大 。有报道将 内标法与 DCS(Drift 置、背景、稳定时间、积分时间等变动都会引起仪器 CorrectionStandards) 镞用进行控制咖。美国NIsT 信号的变化和漂移 ，在某种程度上仪器的漂移是很 (NationalInstituteofStandardsnadTechnology)Salit 难彻底消除的，仪器分析技术诞生的同时漂移就