一种改善的全数字化锁相环在光栅位置检测中的应用.pdfVIP

第25卷第4期增刊 仪 器 仪 表 学 报 2004年8月 一种改进的全数字化锁相环在光栅位置检测中的 应用 王小兵 金 锋 (北京理工大学信息科学技术学院 北京 100081) 摘要 全数字锁相环(ADPLL)应用广泛，但是在检测领域应用不多。为此，介绍了将一种改进的全数字化锁相环应用于光栅 位置检测中的方法。该方法先将光栅传感器的输出信号进行相应调制预处理，再送人全数字锁相环中进行倍频细分，这样既 避免了传统锁相环细分方法的缺点，又有细分数高，调节方便，捕捉范围宽的优点。 关键词 全数字锁相环\光 栅 。位置检测 、/ ) 了 尸 丫 ApplicationofImprovedADPLLinGratingPositionMeasure WangXiaobing JinFeng (CollegeofInformationSci.Tech.,,BeijingInstituteofTech.，Beijing100081,China) AbstractAll-digitalphaselockedloop(ADPLL)haswideapplication，however，itisnotusuallyusedinthe fieldofmeasurement.ItintroducesamethodwhichappliesanimprovedADPLLtothepositionmeasurementof thegrating.First，thedisplacementsignalistranslatedintotimesignal;then,throughtheADPLL，electronic divisionisachieved.So，thismethodavoidsthedisadvantagesofclassicalmethodaswellasreservestheadvan- tagesofhighdivision，wide-scopeofcatch，andeasyadjust. Keywords ADPLL Grating Positionmeasurement 的应用并不多见。采用全数字化锁相环(ADPLL)我 1 引 言 们一般说的数字锁相环是部分数字化的)的就更少。这 一方面是因为由于以前的技术条件所限，全数字锁相 随着科学技术向微小领域的不断深化，人们对位 环(ADPLL)的工作频率较低，处理速度跟不上;另一 置检测技术提出了更高的要求:不仅要求分辨率提高 方面也是因为以前的单片集成全数字锁相环产品的特 到纳米级，而且要求在高精度的同时必须保证一定的 性不适合作位移检测的核心部件。随着数字电子技术 跟踪速度。在位置检测中，光栅数显装置占据了80% 的发展，其电路的工作速度越来越高;EDA技术的进 的份额，因此，研究提高光栅数显装置的性能指标，具 步，我们可以利用可编程芯片设计自己的专用芯片。这 有重要的现实经济意义。通过对光栅数显装置的改造， 给我们把全数字锁相环用于测量仪表提供了契机。在 可以极大节约资源。光栅数显装置精度的提高，主要从 此介绍了以一种改进的全数字化锁相环(ADPLL)为 提高莫尔条纹的细分数人手。为此人们投人了很大精 核心部件的光栅测量装置，它具有精度高，捕捉范围 力，并取得了一定的成果，例如，4细分电路、电阻链细 宽，跟踪速度快，调节方便的优点。 分电路、鉴相细分电路等。但这些细分电路并不能满足 实际需要。 2 工作原理 由于现代电子技术的发展，特别是通讯技术的发 展，锁相环(特别是数字锁相环)在通讯、频率合成等方 系统的原理框图如图1所示。一般光栅传感器输 面得到了广泛的应用，但在