基于COM架构的芯片试验设计与实现.pdfVIP

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第6期 微 处 理 机 No.6 2012年 12月 MICROPROCESSORS Dee.,2012 基于 COM架构的芯片试验设计与实现 尹冀波 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳110032) 摘 要:COM技术在软件领域有着很广泛的应用。以芯片试验为例,阐述了基于COM架构的 试验设计方法。通过上位机控制试验设备的功能,调度实验设备的任务。 关键词:COM架构;芯片试验;微处理器 DOI编码 :10.3969/j.issn.1002—2279,201206、023 中图分类号:TP916.3 文献标识码:A 文章编号:1002—2279(2012)o6—0081—02 Design ImplementofChipTestBasedonCOM Architecture YIN Ji—b0 f e47thRese。rchhJ~tituteofChina ElectronicsTechnologyGroupCorporation,Shenyang110032,China) Abstract:TheCOM technologyisusedwidelyinsoftwarearea.Usetheapplicationofchiptestto expatiatethetestmethodsbasedonCOM architecture.UsingPCtocontroltestdevices’function,wecan adjusttestdevices’task. Keywords:COM;Chiptest;Microprocessor 1 引 言 COM即组件对象模型,是一种跨应用和语言共 享二进制代码的方法。COM对象在内存中表现为 组件对象类 CoClass的一个实例,该对象保持它们 匿 一 自己的引用计数,当引用计数为零时,COM对象将 o.ol{_.—————-——————__-·-_-_·__ ol o.。0j_———————————————--_-——。_-——_-.—__{D.oo 自己从内存中释放。在实际的工程项 目中,可以根 据COM客户机 一服务器的应用方法,建立适合需求 的架构模型。 芯片试验具有需要处理的信息量大、快速响应、 并行数据计算的特点。根据上述特点,选取COM作 为试验的工程架构,配合 C805117340微处理器为核 流会首先出现攀升以及持续的增长,到达一定域值 心的硬件电路,组成了完整的芯片试验平台。 2 系统功能分析 2.1 电流实时变化波形 在芯片试验过程中,芯片的电流曲线能够反映 出该芯片对于外界所施加影响而产生的内部物理结 息链路。用户下达的命令包括:输出电压、电流上限 构变化。根据这种情况,可以使用OpenGL专业级 值、测试启动、片选、复位以及其它控制。上述命令 COM绘图组件来绘制电流实时变化波形,该组件 提交给电源组件,由电源管理COM组件负责命令解 形统计和动态图形显示提供了比较好的解决方 析和命令重新打包 ,提交给通信组件,再由通信组件 怍者简介:尹冀波(1973一),男,河北深州人,高级工程师,主研方向:测试。 收稿 日期:2012—03—20 · 82 · 微 处 理 机 向电源下达指令。 3.1 控制台 硬件 电路检测到芯片功能参数的变化,生成芯 (1)防止同一程序多次启动,创建 自定义编辑 片消息,上传至芯片COM组件。芯片组件进行消息 框,设定多个编辑框的

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