非制冷焦平面探测器比色波长的优化设计.pdfVIP

2012年 l2月 滁 州 职 业 技 术 学 院 学 报 Dec．2012 第十一卷第4期 JOURNALOFCHUZHOUVOCA~ONAL＆TECHNICALCOLLEGE Vo1．11No．4 非制冷焦平面探测器比色波长的优化设计 ‘ 马锦志，唐 磊 (滁州职业技术学院机电工程系，安徽 滁州 239000) (合肥师范学院电子信息工程学院，安徽 合肥 230061) 摘 要： 本文介绍了基于非制冷焦平面阵列红外探测器的比色测温的基本原理，详细讨论了比色双 波长的优化选择及滤光片波长范围的确定 在充分考虑 了冶金、石化等行业应用环境温度条件下，通过理 论分析、实验验证最终确定波长范围为 0．9 m～3tam，最佳比色波长为A=0．98，A=1．56。实践证明该比色 波长组合具有较好的图像比色效果，为非制冷焦平面红外探测器在比色测温技术中的应用打下了坚实的 基础。 关键词 ： 探测器；温度测量；比色波长 ；滤光片 中图分类号：TFTO1 文献标识码：A 文章编号：1671—5993(2012)04—0071—03 一 、 引 言 二、比色测温原理 在多晶硅 、冶金、石化等行业中，控制高温加热 比色测温法的理论基础是黑体辐射定律，是根 炉中加热工件的表面温度是控制产品质量的重要因 据热辐射物体在两个波长下的光谱辐射亮度之比与 素 。特别是由准确控制加热温度，进而优化调整燃烧 温度之间的函数关系来测量温度的方法。该技术采 工艺所带来的节能降耗和效益提升更是意义重大Il】。 用双色信号对比的办法可较好地消除环境及发射率 如在多晶硅生产中，对硅棒表面温度的精确测量可 的影响．有效地提高了测温精度 ．比色测温法受被测 以直接控制硅棒的生长过程、提高硅棒质量：在石化 物体比辐射率的影响小，针对被测物体的辐射特性 ， 行业中，对焦化炉 、炼油炉 、制氢炉中的炉管表面温 合理的选择两个工作波段可以大大减小因被测物体 度进行检测，提高产品质量和预防炉管局部过热引 比辐射率变化而引起的测量误差。由于比色温度要 起炉管爆裂而产生的事故：在钢铁冶炼中温度过高 比亮度温度和辐射温度更接近于这类物体的真实温 会造成钢材冷却时的过多消耗 ，温度过低则造成轧 度 ．因此，比色测温法能够精确测定管式加热炉炉管 钢困难，而温度不均则会使钢材的品次降低u1。所 以 表面的温度分布嘲。 对使用高温监测设备进行工件表面温度实时监测不 根据黑体辐射原理 ，当C：／ATI时 ．普朗克公 仅能提高产品质量 ．还可以提高产品合格率，达到节 式可由维恩公式代替．可简化为： 能、增产、减排的效果。本文针对一种基于非制冷焦 ／1 Af(A)=(A)CIIAsEXP(—争) (1) 平面阵列探测器阵列的比色测温系统。讨论了其红 ，～ j 外滤波片中心波长及带宽的计算方法。由于受非制 C、c：为辐射常数，A为中心波长，T为被测物体表面 冷焦平面阵列探测器响应带宽的限制．此方法适用 温度，8为被测物体表面辐射率。在AT2698／．tnK区 于工件表面温度介于300～800K时的高温检测圆。 域内。维恩公式与普朗克公式的误差小于 l％。 收稿 日期：2012—10—17 作者简介：马锦志(1972-)，男，安徽凤阳人，滁州职业技术学