一种面向多核处理器I／O系统软错误容错方法.pdfVIP

CN43—1258／TP 计算机工程与科学 2011年第 33卷第 1O期 ISSN 1007130X C()MPUTER ENGINEERING ＆ SCIENCE Vo1．33，No．10。2O11 文章编号 ：1007—130X(2011)10—0076—04 一 种面向多核处理器 I／O系统软错误容错方法 A SoftErrorToleranceM ethodfor theI／OSystem ofMulti——CoreSystems 郭御风，郭诵忻，龚 锐 GUO Yu—feng，GUO Song—xin，GONG Rui (国防科学技术大学计算机学院，湖南 长沙 410073) (SchoolofComputerScience，NationalUniversityofDefenseTechnology，Changsha410073。China) 摘 要：集成 电路制造工艺的飞速发展 ，使得集成 电路的特征尺寸不断减 少和集成度不断提高，造成 集成电路对工作环境的影响越来越敏感 ，发生软错误的几率不断增加，对可靠性造成重要影响。随着微处 理器进入 了多核时代，丰富的片上资源给软错误加 固带来 了很好的机遇 。本文针对 多核处理器中I／O 系 统软错误，提 出了一种基于多核处理器的软件 Scrub方法对软错误进行加固。测试结果表 明，我们提 出的 软错误容错方法可以大大提高 i／o 系统的可靠性 。 Abstract：W iththedevelopmentofintegratedcircuits，thetransistordimensionsarereducingand the densityisincreasing，andICsdependonworkenvironmentservers，sothepossibilityofsofterroroccur— ingbecomesmoreoften，which hasimportanteffectonthereliability ofchips．M ulti—coremicroproces— sorshavebecomethemainstream overthepastfew yesrs，theredundantresourcesinthemulti—coremi— croprocessorsprovidearedundantresourcetoenhancethereliability．A softscrubmethodformulti—core processorsisproposedtotoleratesofterrors．Theexperimentalresultsdemonstratethatthistechnique cangreatlyincreasethereliabilityoftheI／O systems． 关键词：多核处理器；软错误 ；可靠性 ；Scrub Keywords：multi—coresprocessor；softerror；reliability；scrub doi：10．3969／j．issn．1)【(]7—130X．2011．10．014 中图分类号 ：TP302．8 文献标识码 ：A 误的概率不断增加 ，芯片可靠性 问题变得 日益 突 l 引言 出。微处理器软错误是指 当微处理器受到高能粒 子轰击或噪声干扰 时，由于瞬时充放 电，有可能破 集成 电路制造工艺和体系结构技术共 同推动 坏微处理器的内部状态 (“0”和 “1”的逻辑状态)，使 着微处理器 的发展 。然而 ，随着工艺水平 的提高， 微处理器发生瞬态故障，对芯片的可靠性带来极大 集成 电路 的特征尺寸逐渐减小 ，单个芯片上集成 的 影响。有研究表