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实验二 组合逻辑电路分析与测试 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的分析方法。 2.验证半加器和全加器电路的逻辑功能。 3.了解两个二进制数求和运算的规律。 4.学会数字电子线路故障检测的一般方法。 二、实验原理 1.分析逻辑电路的方法:根据逻辑电路图---写出逻辑表达式---化简逻辑表达式(公式法、卡诺图法)---画出逻辑真值表---分析得出逻辑电路解决的实际问题(逻辑功能)。 2.实验线路 (1)用与非门组成的半加器,如图4-4-1所示。 图4-4-1 与非门组成的半加器 (2)用异或门组成的半加器,如图4-4-2所示。。 图4-4-2 异或门组成的半加器(3)用与非门、与或非门和异或门组成的全加器,如图4-4-3所示: 3.集成块管脚排列图见附录 三、实验仪器及器材 1.数字实验箱 2.集成块74LS00 3.集成块74LS54 4.集成块74LS86 5.万用表 6.+5V直流电源 图4-4-3 与非门、与或非门和异或门组成的全加器 四、实验内容及步骤 1.检查所用集成块的好坏。 2.测试用与非门组成的半加器的逻辑功能。 (1)按图4-4-1接线,先写出其逻辑表达式,然后将输入端A、B接在实验箱逻辑控制开关插孔,X1、X2、X3、Sn、Cn分别接在电平显示插孔接好线后,进行测试。 (2)改变输入端A、B的逻辑状态,观察各点相应的逻辑状态,将结果填入表4-4-1中,测试完毕,切断电源,分析输出端逻辑状态是否正确。 表4-4-1 输入端 输 出 端 A B X1 X2 X3 Sn Cn 0 0 0 1 1 0 1 1 3.测试用异或门和与非门组成的半加器的逻辑功能 (1)按图4-4-2接线,将输入端A、B分别接在逻辑控制开关插孔,Cn、Sn分别接在电平显示插孔,接好线后进行测试。 (2)改变输入端An、Bn的逻辑状态,观察Sn和Cn的显示状态,并将测试结果填入表4-4-2中,并分析结果正确与否。若输出有误,分析其原因并查找故障点。 4.测试用与非门、与或非门组成的全加器的逻辑功能。 (1)按图4-4-3接线,输入端An、Bn、Cn-1分别接逻辑控制开关插孔, Sn、Cn分别接电平显示插孔,接好线后进行测试。 表4-4-2 输入端 被加数 A 0 0 1 1 加 数 B 0 1 0 1 输出端 半加和 Sn 进 位 Cn (2)改变An、Bn、Cn-1的输入状态,观察输出Sn和Cn相应的逻辑状态,将观察结果填入表4-4-3中。切断电源后,分析结果正确与否,若输出有误,分析其原因并查找故障点。 表4-4-3 输入端 被加数An 0 1 0 1 0 1 0 1 加数Bn 0 0 1 1 0 0 1 1 低位进位Cn-1 0 0 0 0 1 1 1 1 输出 全加和Sn 进位Cn 五、实验注意事项 1.实验接线前首先验证用到的与或非、异或、与非门的逻辑功能,检查集成块是否完好。 2.与或非、异或、与非门中,当某一组输入端不用时,应按规定处理。 六、实验报告要求 1.分析逻辑电路图,说明逻辑电路的功能。 2.对逻辑电路的功能进行实验测试,并记录测试结果。 3.分析组合电路实验的体会。 实验三组合逻辑电路的设计与测试 一、实验目的 1.掌握组合逻辑电路的设计与测试方法。 2.进一步提高归纳逻辑问题的能力。 二、实验原理 1.使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路设计方法。设计组合电路的一般步骤如图4-5-1所示。 图4-5-1 组合逻辑电路设计流程图 根据设计任务的要求建立输入、输出变量,并列出真值表。然后用逻辑代数或卡诺图化简法求出简化的逻辑表达式。并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。 根据简化后的逻辑表达式,画出逻辑图,用标准器件构成逻辑电路。最后,用实验来验证设计的正确性。 2.组合逻辑电路设计举例 用“与非”门设计一个表决电路。当四个输入端中有三个或四个为“1”时,输出端才为“1”。 设计步骤:根据题意列出真值表如表4-5-1所示,再填入卡诺图表4-5-2中。 表4-5-1 D 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 A 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1 B 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 C 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 Z 0 0