AMSAA—BISE模型及其统计推断.pdfVIP

维普资讯 系统工程与电子技术 1991年第 11期 AMSAA—BISE模型及其统计推断① 北京强度与环境研究所 周源泉 翁朝曦 摘要 本文将 AMSAA模 型推厂到 多台系统同步开发的可靠性增长试验 的情况，所以．审名 琦 AMSAA-BISE 模型 。文 中对定数噩定时截尾数据培 出了Weibull过程参数 的极 大似然 M【L) 估计和无偏估计 ， 系统选 到 MTBF的置信 区间和拟合优度检验方法。 主题词 可靠性试验 ．可靠性预计模 型，系统故障，捡验．极大似然估计，纯计推断。 AM SAA—BISEM odelandItsStatisticalInference ZhouYuanquanandW engZhaoxi B￡日q；Institute。{StructureandEnvironment Abs~act：Inthispaper，theAMSAAmodelisgeneralizedtothereliabi!itygrowthtestingof multi~system simultaneousdevelopmentthereforitisdenominatde AM SAA-BISEmodel n le M Landunbiasde estimatesoftheparametersfortheweibulIprO0~SS，theconfidenceintervalsofthe achieved M TBF ofsyster~ arid agoodnessoffittestalegiven from faiure—trunactde dataand time-truncateddata Keywards：Reliabilitydemonstration，Reliabilitypredicationm ode1．System failure，M aximum 】ikelihoodestim ate，Statisticalirifefence． Duane可靠性增长假设： 言 1．系统在开发期 [0，t】内出现的失效次 数，是含均值函数 v()= Ⅳ【(f)】=ctt及瞬 对复杂的可修系统，Duane[41发现，在 时强度 l()=dE|N(t)】／dt= 芦， 的非 研制试验阶段 (或称开发期)，它的累积失 齐次 Poisson过程： ● 效率的对数与累积开发时问 f的对数呈很好 V{N(t)= )=[v(f)] 一”／!， 的线性关系 。记 0【，f】内系统 的失效次数为 =0l，2、… Ⅳ(f)，则累积失效率为(Ⅳ(t)／t。Duane假 设为： ① 奉 文 是 国家 七 五 ’重 点 科 技 攻 关课 题 ln[N(t)／fj≈1n +(一1)lnt 75—53--08—2／03’的研究成果之一． 即 Ⅳ()= +￡()，式中 ￡()是均值为 0 、 营AM SAA--BISE ArmyMateri