基于KPLS和LS-SVM的过程参数预测及其应用.pdfVIP

2010年3月 控 制 工 程 Mar．20 10 第17卷第2期 ControlEngineeringofChina Vo1．17，No．2 文章编号：1671-7848(2010)02-0216-03 基于 KPLS和 LS—SVM 的过程参数预测及其应用 朱红求，阳春华，桂卫华 (中南大学 信息科学与工程学院，湖南 长沙 410083) 摘 要：针对有色冶炼净化过程流程长、影响因素多以及非线性强等特点，提 出了一种结 合最小二乘支持向量机和核偏最小二乘回归的过程参数预测方法。考虑到过程参数时间序列 具有高噪声和非平稳等特性，首先基于小波多分辨率分析方法将参数时间序列分解成具有不 同频率特征的子序列，然后根据分解后各 自序列的特点，利用最小二乘支持 向量机和核偏最