电子显微学进展及其在材料科学中的应用.pdfVIP

中国科学院物理研究所成立% 周年 电子显微学进展及其在材料科学中的应用! 4 李建奇 ! ! 段晓峰 （中国科学院物理研究所! 北京电子显微镜实验室! 北京! 5%% 56% ） 摘! 要! ! 文章简要介绍了高分辨电子显微学方法和电子能量损失谱的进展- 文中特别指出，随着电子显微技术 的发展，原子分辨电子显微图像对结构问题的深入研究有重要作用- 装备有能量单色器的新一代电子显微镜，可以 直接给出高能量分辨率的电子能量损失谱（优于% - 578 ）- 这些先进技术方法的应用，推动了晶体结构学、材料科 学、物理学、纳米科学及生命科学的发展，也为解决很多重要结构问题奠定了基础- 文章重点讨论了几个典型功能 材料体系的结构问题：利用大角度会聚束电子衍射技术，分析了应变硅器件中的应变分布；利用原位电子显微技 术，研究了新型电子铁电体9.:7 ; 电荷序和物理性能的关系；深入探讨了强关联体系中电子关联效应对电子能 $ 量损失谱和电子结构的影响- 关键词! ! 高分辨，电子能量损失谱，功能材料 !#$%’%%’($ )*)+,($ ’+(%+(-. #$/ ’,% #--*’+#,’($% ’$ #,)’#* %+’)$+) 4 9= 013?@0 ! ! ABCD E01F?:73G （!#$ #% ’()*+(,*+- *. /01,+*% 2#1+*31*4- ，5%3,#,6, *. 78-3#13 ，98#%3 :1(;- *. =1#%13 ，!#$ #% 5%% 56% ，98#%( ） 01%,#+,2 2 H7273) *IFGI7JJ 03 )(7 K07/L FK (0G(?I7JF/.)0F3 )I13JM0JJ0F3 7/72)IF3 M02IFJ2F*N （OPQ ）13L 7/72? )IF3?737IGN /FJJ J*72)IFJ2F*N 0J RI07K/N I7S07,7L- =) 0J 7M*(1J0T7L )(1) 3.M7IF.J J0G30K0213) J)I.2).I1/ 0JJ.7J 03 M1)7I01/ J207327 2F./L R7 ,7// 1LLI7JJ7L R1J7L F3 37,/N L7S7/F*7L OPQ )72(30U.7J- :FI 03J)1327 ，J)I1037L?J0/0? 2F3 *?)N*7 M7)1/?FV0L7?J7M02F3L.2)FI K07/L 7KK72) )I13J0J)FIJ (1S7 R773 2/71I/N J).L07L RN /1IG7 13G/7 2F3S7IG73)? R71M 7/72)IF3 L0KKI12)0F3 ，13L 2F3J0L7I1R/7 /F3G0).L031/ 2FM*I7JJ0S7 J)I103 ，.* )F $ - W5% ，03 )(7 313FM7)7I J21/7 2(1337/ I7G0F3 (1J R773 I7S71/7L- QFI7FS7I ，03?J0). OPQ FRJ7IS1)0F3J 2/71I/N L7MF3J)I1)7 )(7 I7M1IX1R/7 J)I.2? ).I1/ K71).I7J FK J)I.2).I1/ MFL./1)0F3J 03 91（YI ）Q3; 1I0J03G KIFM 2(1IG7 FIL7I ，13