锆石地球化学特征及地质应用研究综述d.docVIP

锆石地球化学特征及地质应用研究综述 摘　要:介绍并对比了用于锆石等副矿物测试的离子探针、激光探针、电子探针、质子探针等几种微区原位测试技术各自的特点。锆石U-Pb?定年实现了对同一锆石颗粒内部不同成因的锆石域进行原位年龄的分析,给出了有关寄主岩石的源岩、地质演化历史等重要信息,为地质过程的精细年龄框架的建立提供了有效的途径。锆石微量元素、同位素特征是译解岩石来源和成因的指示器。锆石Hf?同位素已成功地用于地球早期历史、岩浆来源、壳幔相互作用、区域大陆地壳增长的研究等;锆石氧同位素组成能有效地约束壳幔相互作用和示踪岩浆来源等。 ? 关键词:锆石;年代学;地球化学特征;地质应用 ? 随着能够显示矿物内部复杂化学分区的成像技术和高分辨率的微区原位测试技术的发展和广泛应用,研究颗粒锆石等副矿物微区的化学成分、年龄、同位素组成及其地质应用等已成为国际地质学界研究的热点[1?]?。锆石U2Pb?法是目前应用最广泛的同位素地质年代学方法,锆石的化学成分、Hf?和O?同位素组成广泛应用于岩石成因、壳幔相互作用、区域地壳演化的研究等,对地球上古老锆石的化学成分和同位素的研究是追朔地球早期历史的有效工具。笔者着重综述锆石的化学成分、同位素组成特征及其在地质学中的应用。 1?　微区原位测试技术 锆石等副矿物在地质学中的广泛应用与近年来原位分析测试技术的快速发展密不可分。代写论文目前已广泛应用的微区原位测试技术主要有离子探针、激光探针和电子探针等。 1.?1?离子探针 离子探针(?sensitive?high?resolution?ion?micro-probe?,简称SHRIMP)?可用于矿物稀土元素、同位素的微区原位测试。在目前所有的微区原位测试技术中,SHRIMP?的灵敏度、空间分辨率最高(对U?、Th?含量较高的锆石测年,束斑直径可达到8μm)?,且对样品破坏小(束斑直径10～50μm?,剥蚀深度5μm)?[?2-3?]?,是最先进、精确度最高的微区原位测年方法。其不足之处是仪器成本高,测试费用昂贵,测试时间较长(每测点约需20?min)?。 2000?年,Cameca?NanoSIMS?50?二次离子质谱开始用于对颗粒大小为1～2μm?的副矿物进行U-Th-Pb?年代学研究。代写毕业论文?NanoSIMS?对粒度极细小的副矿物进行定年要以降低精度为代价,且用于U-Th-Pb?定年还没有进行试验,还未完全估算出其准确度和分析精度,有可能在西澳大利亚大学获得初步的成功[2?,4?]?。 1.?2?激光探针 激光剥蚀微探针2感应耦合等离子体质谱仪(la-ser?ablation?micro2probe2inductively?coupled?plas-ma?mass?spect?romet?ry?,简称LAM2ICPMS)?,即激光探针技术可实现对固体样品微区点常量元素、微量元素和同位素成分的原位测定[?5?]?。近年研制成功的多接收等离子质谱(MC-ICPMS)?可同时测定同位素比值,该仪器现今已经成为Hf?同位素测定的常规仪器[6?]?。近年来激光探针技术在原位测定含U?和含Th?副矿物的U-Pb?、Pb-Pb?年龄或Th-Pb?年龄方面进展极快,在一定的条件下可获得与SHRIMP?技术相媲美的准确度和精确度,且经济、快速(每个测点费时?4?min?,可以直接在电子探针片内进行分析[5?,7-8?]?)?;但与SHRIMP?相比,激光探针要求样品数量较大,对样品破坏大(分析束斑大小一般为30～60μm?,剥蚀深度为10～20μm)?,其空间分辨率和分析精度一般低于SIMS、SHRIMP[?1?,9210?]?。 1.?3?电子探针、质子探针、X?射线荧光探针 电子探针(elect?ron?probe?X-ray?microanalysis?,简称EPMA?)?、质子探针(?protoninduced?X-ray?emission?micro-p?robe?,简称PIXE)?和X?射线荧光探针(X-ray?fluorescence?p?robe?,简称XRF)?均属微区化学测年技术。其优点是可以直接在岩石探针片上进行测定,不破坏样品,保留了岩石的原始结构,样品制备方便,便于实现原地原位分析,与同位素定年相比,价格低廉,分析快速;其缺点是不能估计平行的U-Pb?衰变体系的谐和性[1?,11?]?,且由于化学定年不需进行普通铅的校正,容易导致过高估计年轻独居石、锆石等矿物的年龄[12?]?。 电子探针测定锆石的Th-U-全Pb?化学等时线年龄方法(chemical?Th2U2total?Pb?isochron?meth-od?,简称CHIME)?的优点是空间分辨率高达1～5μm?,可进行年龄填图[5?,8?]?,可进行