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☆★☆ 第十四届全国工程电介质学术会议论文集 ☆★☆
瞬态放电电流法研究聚酰亚胺空问电荷行为
董建星1,郑飞虎2,安振连2,张冶文2
(1.同济大学物理科学与工程学院先进微结构材料教育部重点实验室,上海200092;
2.同济大学电子与信息工程学院上海201804)
摘要:瞬态放电电流法是最近才提出的一种新的研究空间电荷的方法。它最大的优点是:可以在短时间
内监测电介质中空间电荷的行为。瞬态放电电流法采集到的电流信号是自由电荷和浅陷阱电荷脱陷形成的
电流,目前我们通过观察电流周期的变化来研究空间电荷的相关信息。通过计算样品电容变化率,可以定
性的判断样品中空间电荷的信息。本文旨在利用瞬态放电电流法测量聚酰亚胺中的空间电荷的行为,分析
数据中隐含的空间电荷的相关信息,并结合热脉冲法对所得结论进行验证。
关键词:瞬态放电电流法;空间电荷;等效电容;电容变化率 ’
1 前言 场畸变,电介质的击穿也可能发生在外加电场减弱
的过程中,甚至在没有外加电场的情况下也可能发
电气电子等领域要求采用具有很好的绝缘性
生严重的击穿。电介质中空间电荷的快速脱陷过程
能,机械性能以及稳定的化学性能的材料来保证设
被认为是导致介质在非电场作用下击穿的原因H1。
备的正常运转。聚合物材料在这几方面性能突出被
由于这个过程非常短暂,传统的测量空间电荷
广泛应用于电气电子领域n1。在使用的过程中,人
的方法已经不能进行有效的监测电介质中空间电
们发现当聚合物老化后极其容易发生击穿,而这一
荷的行为。本文将通过瞬态放电电流法监测空间电
结果可能会对设备造成很严重的影响,甚至使设备
荷的行为,最后将用热脉冲法测量样品中空间电荷
不能正常工作。经过研究得知:聚合物的击穿是由
的分布进一步印证。
于介质微观结构的不均匀性以及在生产过程中不
可避免的引入杂质而引起的。二者构成了介质老化 2试样制备及实验方法
的电荷积累中心陋1,即电荷的物理陷阱和化学陷阱。
本文所用的原始试样为杜邦公司生产的25um
当聚合物中的陷阱捕获的电荷逐渐增多时会造成
的聚酰亚胺polyimide以下简称PI。样品都裁剪成
介质内部电场畸变,畸变达到一定值时可能引起材
5×5cm2的正方形,采用真空蒸镀法,在样品的中心
料树枝化,从而导致介质击穿馏1。
双面镀直径为14H瑚的铝电极,单面厚度大约
电场畸变能很好的解释一部分电介质击穿现
160nm,正好不透光而且信号幅值较大。在蒸镀的
象。但是,并不是所有的电介质击穿现象都可以用
过程中一定要保证样品的洁净度,并且不能弯折,
电场畸变来得到满意的解释。在聚酰亚胺的实际应
以便后面可以顺利加高压而不击穿。
用中,有些击穿并不是发生在电气设备正常工作的
我们规定:加压面(加压面指的是对样品进行
过程中,而是在停止工作的瞬间,发生了意外击穿。
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