X射线线形的解卷分析与Bragg角的精确计算X.pdfVIP

第 49 卷 第 8 期 2000 年 8 月 物 　理 　学 　报 Vol. 49 ,No. 8 ,August ,2000 ( ) 2000/ 49 08 / 152004 ACTA PHYSICA SIN ICA 2000 Chin. Phys. Soc. X 射线线形的解卷分析与 Bra gg 角的精确计算 刘 　刚 　卢 　柯 ( 中国科学院金属研究所快速凝固非平衡合金国家重点实验室,沈阳　110015) 梁志德 ( 东北大学材料科学与工程系 ,沈阳　110006) ( ) 1999 年 12 月 17 日收到;2000 年 1 月 17 日收到修改稿 　　采用解析函数模拟 X 射线线形 , 在排除实验测试误差影响的条件下 , 研究仪器宽化修正过程中各种因素如 Kα双线、线形宽度和原点选取等对傅里叶系数和真实线形的影响 ;分析了从傅里叶系数或真实线形分离晶粒尺寸 和微观应变的可靠性 ; 提出了无任何假设的前提下 , 由实测线形的解卷计算求得精确Bragg 角的方法. 关键词 : X 射线线形 , 傅里叶变换 , 真实线形 , Bragg 角 PACC : 6110F , 6110M 得[6 ] ,计算中采用的假设条件对计算结果的精度也 1 　引 言 会产生一定的影响. 为此本文利用能够排除测试误 差的计算机辅助实验技术 ,在探索解卷计算过程中 X 射线线形分析是表征超细晶材料微观结构参 傅里叶系数和真实线形变化规律的基础上 ,给出了 量变化的重要方法[1 ] . 真实线形包含了晶体不完整 提高解卷计算可靠性及直接利用解卷计算求得精确 ( ) 性 如小的晶粒尺寸和微畸变 的信息. 在没有任何 Bragg 角的方法. 假设的条件下 ,真实线形及其相应的傅里叶变换可 ( ) [2 ] 以通过仪器宽化修正 解卷法 直接获得 . 对修正 2 　基本方法 后的傅里叶系数进行 WarrenAverbach 分析[3 ,4 ] 、或 将真实线形用 Voigt 函数拟合[5 ] ,都可以求算出材 实测、标样和真实线形分别记为 h ( x) , g ( x) 料的晶粒尺寸和微畸变. 然而在实际测试条件下 ,X 和 f ( x) , 三个函数之间为卷积关系 射线线形由 Kα双线辐射组成 ,经过仪器宽化修正 + ∞ ( ) ( ) ( ) ( ) h x = g y f x -