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第六届两北地区计算物理学术会议论文集 2008 消光法对煤烟粒子浓度的研究 胡坤汪加洁韩一平 (西安电子科技大学理学院，西安710071) ≥删≥ f=NKextO=署D2kⅣ (2) 如2砉善(2川)Re(％+乩) (3) 第六届两北地区计算物理学术会议论文集 2008 式中口：—n_D，为无因次尺寸参数，％，bn为Mie系数。 将(2)代入(1)可以得到： 砌(争一三。2如，NL ㈣ 在实际情况下，被测量的颗粒大多不是单分散系，而是具有一定尺寸分布范围的多分散颗粒系， 此时，该介质的浊度为： 弘百z：bJⅣ(D)D2Kexf扣 (5) 式中，a和b分别是颗粒尺寸分布的下限和上限，Ⅳ(D)是以颗粒数计的尺寸分布函数或频度函 数。 将(5)式代入(1)式，得： (6) M／j。)=x4口bⅣ(D)。2Kex,aO 由(2)式和(6)式可知，入射光的衰减中包含有颗粒尺寸和浓度(颗粒数)的信息，从而为它们的测 量提供了一个尺度。 为此消光法可归结为：测得入射光和透射光的强度和，或厶其比值，知道入射光的波长A，光 程￡和被测颗粒折射率m后，就可得到颗粒的尺寸分布函数及浓度，此时体积浓度可表示为： Cv (7) 2詈夕(功D3如，奶 3消光系数 从消光法的原理我们可以发现，一个需要仔细研究的方面是消光系数随粒子尺寸大小的变化。 这个内容已经有很多文献做了论述【“1，但是在实际研究的对象中涉及到折射系数具有吸收虚部 的情况还很少见。因此在这里我们需要将折射系数具有吸收虚部的情况，以及在对象粒子的尺寸 相对很小的条件下重新展开讨论。 在被测量粒子的折射系数只存在实部，吸收虚部为零的条件下，有一些科学-V作者【卜51已经对 消光法的测量下限做了相应的研究，理论研究表明，当颗粒的尺寸参数小于0．3之后，Mie理论 的计算可以用瑞利散射来代替，从而限制了消光法对纳米级粒子的探测研究。然而我们的研究发 现当折射系数不为零时，如图2所示，它的消光系数随尺寸参数的变化与吸收虚部为零的情况下 的差别很大。进一步我们发现，在纳米级粒子级别上，消光系数随尺寸参数的变化由于吸收虚部 的不同而发生本质性的差异，如图3和4所示。利用这个结论我们就可以从理论上认定有效的降 低了消光法的研究下限，可以将消光法应用于纳米级粒子的探测研究上去。为此我们成功搭建了 实验平台，并进行了初步的研究。 ．138． 第六届两北地区计算物理学术会议论文集 2008 消光系披n与瓤粒尺寸参披-的芙幕曲线 图2：消光系数随颗粒尺寸参数(0-50)的变化图3：消光系数随颗粒尺寸参数(O～0．8)的变化 (折射系数实部变化，虚部为零) 图4：消光系数随颗