一种有效降低扫描结构测试功耗的方法.pdfVIP

第 36卷 第 12期 湖 南 大 学 学 报 (自然 科 学 版 ) Vo1．36，NO．12 2009年 12月 JournalofHunanUniversity(NaturalSciences) Dec．2OO9 文章编号 ：1674—2974(2009)120045—04 一 种 有 效 降 低 扫 描 结 构 测 试 功 耗 的 方 法 张红 南 ¨，王 松 一，徐 君 ，李向库 ，张志伟 (1．湖南大学 物理与微 电子科学学院，湖南 长沙 410082；2．中国科学院 计算技术研究所 ，北京 10O190) 摘 要 ：提 出了一种有效降低扫描测试功耗的设计方案．通过增加逻辑门结构来控制测 试向量移入阶段扫描链上触发器翻转向组合逻辑电路的传播．同时，设计 了时序优化算法以 保持 电路 其他性能不发生大的改变．实验结果显示 ：通过采 用 ISCA$89基准测试程序进行 分析 ，优化前无用动态功耗值约 占总功耗的 19．84 ，优化后整体测试功耗降低约 23 ，有 效地降低了无用动态功耗 ，并且此方案容 易在 已有的设计流程里实现． 关键词 ：扫描测试 ；测试 向量；组合逻辑 电路 ；动态功耗 中图分类号 ：TN407 文献标识码：A AnEffectiveM ethodforDepressingScan—basedTestPower ZHANG Hong—nan”，W ANG Song ，XU Jun 。LIXiang—ku ，ZhangZhi—wei (1．CollegeofPhysicsandMicroelectronicsScience，HunanUniv ，Changsha ，Hunan 410082 ．China； 2．InstituteofComputingTechnology。ChineseAcademyofSciences，Beijing 100190。China) Abstract：Thescan—basedtestingmethodisoftenusedtosolvetheproblemsoftestingsequentiallogic， anditsapplicationislimitedforthehigh—poweroperationcharacteristics．Thispaperproposedaneffective schemetoreducethescan—basedtestpowertopreventthetransitionsofscanchainsfrom reflectingintothe combinationallogiccircuitlinesbyadding somelogicgates．Then，weintroducedan optimizationalarith— meticensuringotherperformancesofthechip．TheexperimentresultsofISCA$89benchmarkhaveshown thattheuselessdynamicpowerconsumptionaccountsforabout19．84％ ofthetotalpowerconsumption， whiletheoveralltestpowerconsumptionhasbeenreducedbyapproximately23 afteroptimization．This mechanism effectivelyreducestheunwanteddynamicspowerconsumption，anditiseasiertoimplementby meansoftheexistingmethods． Keywords：scan—based；sequential—test；shiftprocess；testpower 基于扫描结构的测试方案就是在 已有 电路设计 题 ，还没有定量的分析方法．当前 ，大部分研究的焦 中插入适当扫描链结构 ，从而解决时序 电路可测试