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Bi4-xNdxTi3O12单晶的光谱学特性研究.pdf
第 31卷第 4期 湖北大学学报(自然科学版) Vo1.3l No.4
20O9年 12月 JournalofHubeiUniversity(NaturalScience) Dec.,2009
文章编号 :1000—2375(2009)04—0388—05
Bi4一NdTi3O12单晶的光谱学特性研究
梁坤,贺小庆
(湖北大学 材料科学与_T程学院,湖北 武汉 430062)
摘要:使用 自助熔生长法生长BhNdTi。O。(BNdT,一0,0.5,0.85)单晶,研究了Nd掺杂对 BNdT单
晶光谱学特性的影响.常温拉曼光谱结果表明:随Nd含量的增加,BNdT中Ti()6八面体振动模式有所增强;
Nd含量增加到一定值,BNdT单晶可能在常温下发生铁 电--N 电相转变;位于 (Biz()2) 层的Bi一0振动模式
随Nd掺杂量增加而减弱,表明Nd含量较低时,Nd计离子仅仅取代伪钙钛矿层的B3|+离子 ,当Nd含量较高
时,有部分Nd 离子开始替换 (Bi。O)一层中的B 离子.紫外一可见光谱结果表明,BNdT单晶具有间接带
隙跃迁的特点,而且单晶的禁带宽度随Nd掺杂含量的增加而减小。
关键词:B N Ti。O 稀土掺杂;光谱学特性
中图分类号:TB3O3 文献标志码 :A DOI:10.3969/j.issrL1000—2375.2009.04.016
钛酸铋 (Bi4Ti3Ol2)属于铋系层状钙钛矿结构铁 电体 (Bismuthlayer-structureferroelectrics,
BISFs),由伪钙钛矿层[(BiTi。O。)。一]和铋氧层[(BiOz) ]相互交叠而成[.与其它铁电材料(PzT,
PBN,SBT等)相比,BiTi。O 具有较高的居里温度和较大的自发极化特性,这些特点使得它在非挥发
性铁电存储器、光电器件和微电子系统中具有潜在 的应用L2j.但 BiTi。O。z在应用中表现出抗疲劳性差
和高漏电流特性_3],阻碍 了其在这些方面的应用.稀土离子 (La抖,Nd抖等)掺杂的 BiTisOl2(BLT,
BNdT等)可以对上述不足之处有所改善[4].对于材料性能的研究使用单晶更好,虽然有关稀土掺杂的
BiTi。O 薄膜和陶瓷材料的报道较多,但仍然还存在许多未明确之处,这主要是缺少高质量的单晶材
料.为此,我们使用助熔剂生长法生长稀土离子Nd掺杂的Bi4Ti。Oz单晶(BiNdxTi。O BNdT,cc=0,
0.5,0.85),并研究了Nd掺杂对其光谱学性能的影响.
1 实验
1.1 实验药品 使用国药集团化学试剂有限公司生产的纯度为 99.99 的BizO。、Ndz03和TiO ,根据
化学计量比采用固相反应法制备BNdT粉体.
1.2 晶体生长 以Bi。O。粉体作为助熔剂,按摩尔比1:9的比例将 BNdT粉体和Bi。()3粉体混合置人
Pt坩锅中,混合体放置高温炉中加热至 1250oC保温 10h,然后 以2℃/h的速度缓慢降温至 900℃,再
自然降温到室温,用硝酸将 BNdT单晶从坩锅中分离.生长出的单晶呈薄片状,厚度 0.2—0.5mm,Bi
Ti。Oz单晶呈黄褐色,Nd掺杂导致单晶变为紫红色.
1.3 性能表征 BNdT单晶的拉曼光谱测试使用法国JY公司生产的T64000型拉曼光谱仪,拉曼测
试采用背散射配制,使用的激光光源为:Ar 514.5nm激光,聚焦在样品表面直径 1—2tLm范围,散射
光 由光电耦合器件 (CCD)系统接收.BNdT单晶拉曼光谱的测试范围为 11—1000em一.单晶的透射
谱测试采用Perkin—Elmer公司Lambda17紫外一可见分光仪,测试范围3O0—850nm.
2 结果与讨论
2.1 拉曼光谱 根据群论理论,基于正交结构,BiT 0 单晶的拉曼和红外振动模式可以分为 引:
收稿 日期:2008—05—28
基金项 目:国家 自然科学基金 资助
作者简介:梁坤(1976一 ),男 ,博士 ,讲师
第4期 梁坤等:BiNdTi。O2单晶的光谱学特性研究 389
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