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第 21 卷第 2 期 有 色 矿 冶 Vol. 21. №2
2005 年 4 月 NON - FERROUS MINING AND METALL URGY April 2005
( )
文章编号 :1007 - 967X 2005 02 - 0050 - 03
ICP - A ES 法测定铜合金中微量硅
张 泉 ,李岩松
(沈阳地质矿产研究所 ,辽宁 沈阳 100032)
摘 要 :研究了 ICP - AES 法测定铜合金中微量硅的最优化条件。采取标准加入法消除基体干
扰。此方法操作简便 ,重现性好 , 回收率为98. 7 %~102. 3 % ,RSD ≤0. 022 1 , 测定范围为
0. 001 %~0. 5 % 。
关键词 标准加入法 ; ICP - AES 法 ;铜合金 ;硅
:
中图分类号: TG115. 339 文献标识码 :A
铜合金中微量硅通常采用钼黄或钼蓝比色法 底透明 ,冷却 ,用热水浸出并加热至溶液清亮 ,冷却 ,
测定[1 ] ,此类方法需用有机试剂萃取分离 , 再进行 移入 1 000 mL 容量瓶中 ,用水稀释至刻度 ,混匀 ,立
比色,操作较为复杂 ,手续冗长。电感耦合等离子体 即移入聚乙烯瓶中 ,此溶液 1 mL 含 1. 0 mg 硅。
光谱法是近几年来发展起来的一种新的分析技术。 ( )
硅标准溶液 1 :移取 10. 00 mL 硅标准贮存溶
它具有灵敏度高 ,检出限低 ,线性范围宽、干扰水平 液于 500 mL 容量瓶中 ,用水稀释至刻度 ,混匀 ,立
低等优点 , 已广泛用于冶金产品分析[2~3 ] ,但用 ICP μ
即移入 聚乙烯瓶中 ,此溶液 1 mL 含 20. 0 g 硅。
- AES 法测定铜合金中微量硅尚未见报导。本文 ( )
硅标准溶液 2 :移取 100. 00 mL 硅标准贮存
探讨了用标准加入法消除基体组分差异大带来的物 溶液于 500 mL 容量瓶中 ,用水稀释至刻度 ,混匀 ,
理干扰 ,ICP 光谱法测定铜合金中的微量硅 ,测定值 μ
立即移入聚乙烯瓶中 ,此溶液 1 mL 含 200. 0 g 硅。
与标准值相吻合 ,结果令人满意。 混合酸 :在 150 m
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