尘土进入电器实验模拟设备研究.pdfVIP

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2010年中国电子学会第十六届电子元件学术年会 尘土进入电器实验模拟设备研究 许良军 王东 北京邮电大学电接触科研室(北京100876) 摘要:大气中的尘土颗粒侵入电器以后,会引起电子元件电气性能改变等诸多问题。 但是目前没有合适的模拟进入的实验方法。以手机作为研究对象,根据机理研究结果确定 了影响尘土进入电器的主导因素为外界气流与动态环境,从而建立了尘土进电器模拟实验 系统的设计框图。尘土循环/回收系统与随机振动载物台为该实验系统的两大核心。通过气 固二相流模型,进行了实验箱内部的尘土循环效率计算。为模拟手机在车载振动环境中的 尘土进入情况,将以路面随机信号作为振动激励。此外,针对控制系统也进行了初步调研。 关键词:尘土进入;实验模拟;有限元;方差分析 中图分类号:TBl 文献标识码:A ofthetestmethodofdust Investigation ingression XU Liang-jun,WANGDong LabofElectric ofPostand (Research Contacts,BeijingUniversity thefactors contact Abstract:Dustcontaminationisoneof electric dusttest causing failures.However,insystem of and the electronicdevicesconnectors,theofdust andcontactbehavior evaluatingreliability way ingression alenotbe or considered.Asa ofthisdusttestmethod ofdust normally properlysufficiently part research,modeling ofmobile wasestablishedearlier.Theofcircuitusedis3.7volts.Air ingression phone voltage densificationand environmenteffectsareasthe factorsondust andelectro dynamic leading ingression.Thermal effectsCanbe further these factorsandtheircombined test ignored.Asresearch,consideringleading effects,the hasbeen includesfour value,dust equipmentpresented.It parts:dustinjection circulatory/recyclingsystem,control andrandomvibration dustdistributioninthechamberinducedtheair andthe system samplestage.The by flowing trans

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