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基于CCD的物体表面温度测量 姓名： 学号： 摘要：温度与物体表面辐射能CCD信号强度之间的关系，黑体炉CCD信号强度和物体表面温度值进行标定，这样CCD摄像机采集到的图像的亮度值分布物体表面的温度值分布，图像处理技术获得物体表面的温度分布。 关键词：CCD，温度场测量，图像处理引言： 任何物体表面都会向外界辐射能量，其发出的辐射能与绝对温度紧密相关，因此可以过测量辐射能来获得物体表面的温度，电荷耦合器件CCD具有灵敏度高、噪声小、动态范围大、精度高和光谱响应宽等优点，从而使CCD应用已成为现代光电技术和光学测量领域最有发展前途的技术手段之一。利用CCD作为非接触式的图像传感器，可以有效的将物体表面发出的辐射能转化成像元阵列的信号强度，信号强度和辐射能成一定的关系，从而获得物体表面的温度信息，结合CCD像机图像处理技术来进行温度测量。本文从建立温度与辐射能的关系入手，设计了测温系统，获得物体表面图像，并利用MATLAB得到了物体表面温度分布图。 测量原理 辐射测温原理主要是利用普朗克定理，在不考虑发射率的情况下物体的光谱辐射出度为： (1-1) 式中：T为物体的热力学温度K,h1为普朗克第一常数，其值为3.743×108w.um4/m2。h2为普朗克第二常数，其值为1.4388×104um.k。 物体表面发出的辐射能通过光学系统投影到C