射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术.docVIP

射频屏蔽室屏蔽效能的测试技术 屏蔽室或屏蔽小室的屏蔽效能测试或性能测试是安装的最后阶段，这也可能是最重要的阶段．屏蔽效能测试很简单，并与ＭＩＬ－ＳＴＤ－２２０也就是插入损耗测试标准是一致的。主要的区别在于测试所用的设备不同。屏蔽效能测试基本上等同于电子测试设备的校准。与测试设备一样，当屏蔽小室的屏蔽效能降低时就需要对其进行校准 测试屏蔽效能最经常用到的两个测试标准或测试程序是ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５和ＮＳＡ　６５－６。这些文件描述了对设备配置和测试场地的要求。每个程序中也规定了测试频率和衰减量 尽管ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５标准覆盖了从１００ＫＨｚ到１０ＧＨｚ的频率范围，但它仅仅要求测量屏蔽室在５个频率点的衰减特性 MIL-STD-285 对于磁场 在150kHz~200kHz之间一个频率点 效能要求：70dB 对于电场 定义三个频率点：200kHz，1MHz，18MHz 效能要求：100dB 对于平面波 定义一个频率点：400kHz 效能要求：100dB NSA-65-6 对于磁场 在1kHz~1MHz之间定义四个频率点 效能要求： 1kHz 20dB 10kHz 56dB 100kHz 96dB 1MHz 100dB 对于电场 在1kHz~10MHz之间定义五个频率点 效能要求： 1kHz 70dB 10kHz 100dB 100kHz 100dB 1MHz 100dB 10MHz 100dB 对于平面波 在100kHz~10GHz之间定义四个频率点 效能要求： 100MHz 100dB 400MHz 100dB 1GHz 100dB 10GHz 100dB ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５专门用来评价屏蔽室，它规定得极为详尽，甚至包括建议的测试点的位置，明确规定测试应在公用设施入口、门、观测窗等附近位置进行。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５也要求要给出屏蔽室四个面的测量结果，以及天线要根据截面接缝（section seam）和平面接缝（panel seam）进行水平和垂直定向的方法 ＮＳＡ６５－６不但增加了大量被测频率点，而且明确规定了测试点的位置。也指定了测试区域如门框（或周围）、接缝、滤波器和通风管。也规定至少在四个不同位置移动天线来确定屏蔽室泄漏的最大信号 ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５和ＮＳＡ６５－６之间的一个主要区别是在测试过程中磁场天线的方向。ＭＩＬ－ＳＴＤ－２８５规定，环状天线应垂直放置在屏蔽表面（平面的），而ＮＳＡ６５－６要求环状天线平行地（同轴的）放在屏蔽场的表面 屏蔽效能由屏蔽体导致的电磁衰减量来定义。　　 电场屏蔽效能的定义为：ＳＥｄＢ＝２０log10Eb/Ea 式中Ｅｂ是没有屏蔽的电场强度，而Ｅａ是加屏蔽后的电场强度。 磁场屏蔽效能定义为：ＳＥｄＢ＝２０log10Hb/Ha 在进行磁场和电场屏蔽效能测试之前，需要确立参考电平和动态范围。为了确立参考电平和动态范围，发射天线（测量磁场用可调的环状天线，测量电场用可调的棒状天线）应放在屏蔽室的外面，以确保接收机或频谱分析仪的外壳没有泄漏。天线相距２４英寸远，外加屏蔽介质约１英寸厚，总共相距２５英寸。在确立参考电平和动态范围过程中天线应保持同轴 测量参考电平和动态范围的测试装置 在确立和记录参考电平、接收机灵敏度和动态范围的同时，将接收天线放在屏蔽室内事先确定的测试点处。天线与屏蔽表面（面板）之间的距离是１２英寸，其方向与参考电平确立时保持一致。发射天线放在屏蔽室外面相同的测试点，距屏蔽表面（面板）１２英寸处并与接收天线保持同样的方向。在确立参考电平时使用的任何固定衰减器要从接收或发射线路上移出，并关上屏蔽室门 在事先确定的测试点放置的接收天线 在这个位置点的接收信号电平与参考电平之间的数值之差就是该位置点的衰减或屏蔽效能。在某频率点上记录的最低值即为该频率点的衰减或屏蔽效能 平面波的测试过程与磁场、电场的测试相同 为了确立参考