光电耦合器电离辐射损伤噪声相关性模型.pdfVIP

a叶技2010年第23卷第3期 ElectronicSci． Tech．／Mar．15．2010 光 电耦合器 电离辐射损伤噪声相关性模型 林丽艳 ，杜 磊 ，包军林 ，何 亮 (1．西安电子科技大学大学技术物理学院，陕西 西安 710071； 2．西安电子科技大学大学 微电子学院，陕西 西安 710071) 摘 要 在总结光电耦合器噪声产生机制的基础上，建立光 电耦合器 电离辐射损伤 1／f噪声相关性模型，并通过 辐照实验验证了模型的正确性。该模型全面分析了光电耦合器的电离辐射损伤，为噪声参量用于光电耦合器电离辐射 损伤袁征提供了理论依据。 关键词 噪声；光 电耦合器；模型 中图分类号 TN632 文献标识码 A 文章编号 1007—7820(2010)03—050一o3 A M odelforIonizingRadiationDamageCorrelatingwithNoise in OptoelectronicCoupledDevices LinLiyan ，DuLei，BaoJunlin ，HeLiang (1．SchoolofTechnicalPhysics，XidianUniversity，Xi’an710071，China； 2．SchoolofMicroelectronics，XidianUniversity，Xi’an710071，China) Abstract Defectsgeneratedbyionizingradiationdamageinoptoelectroniccoupleddevices(OCDs)istheori— ginofnoise．Basedonasummaryofthenoisemechanism inOCDs，amodelofionizingradiationdamagecorrelating with1／fndiseinOCDshasbeenestablished．Theexperimentalresultsagreewellwiththeproposedmode1．The modelanalyzesthemechanism andprovidesthenoiserepresentationtheoryforionizingradiationdamageinOCDs． Keywords noise；OCDs；model 光 电耦合器是一种把发光器件和光敏器件封装在 同一壳体内的光电转换 (电信号一光信号一电信号) 1 模型 器件。其以体积小、寿命长、无触点、抗干扰能力强 光 电耦合器件的低频噪声主要来 自于发光二极 等优点广泛地应用于军事和航天等要求高可靠性的领 管、光敏三极管的集电结和发射结空间电荷区表面附 域。在各种高空辐射粒子及核爆炸射线的辐射下，光 近的陷阱对载流子的复合和发射。图1为光电耦合器 电耦合器容易受到损伤，随之可靠性降低、使用寿命 噪声等效电路图 。其中， ， ，c， 分别是发 缩短 ¨ ，甚至使器件和系统完全失效 J。电流传输 光二极管的低频噪声源、本征噪声源、结电容和动态 比CTR出现退化是光电耦合器电离辐射后常见的失 电阻；，为通过发光二极管耦合 的低频噪声源； 效模式 ，其原因可归结为发光器件性能退化和光