数电实验手册-实验二门电路性能测试.docVIP

实验二 门电路参数测试 一、实验目的 熟悉TTL,CMOS与非门主要参数的含义，掌握其测试方法。 二、实验仪器与器材 仪器：逻辑箱、万用表、示波器、直流稳压电源。 器材：74LS20,CD4011 三、预习要求 参阅附录六，熟悉本次实验所用集成块的管脚图和真值表。 复习与非门主要参数的意义。 仔细阅读附录二。 四、实验内容与步骤：以下的测试记录表格请自己设计 TTL与非门主要参数的测试：选择74LS20 （1）输出高电平VOH VOH是指与非门一个以上的输入端接低电平或接地时，输出电压的大小。规定VOH≥2.4V合格。 如图2—1接好电路，然后接通电源，观察并记录此时的输出电压VOH。 （2）输出低电平VOL VOL是指与非门的所有输入端均接高电平时，输出电压的大小。规定VOH≤(0.4v)合格。 如图2—2接好电路，然后接通电源，观察并记录此时的输出电压VOL。输出空载，输出接有额定负载时，VOL有差别，可以自行测试。 （3）开门电平VON VON是指与非门输出端处于低电平状态时所允许的最小输入电压，换句话说，为了使与非门处于导通状态，输入电压必须大于VON，规定VON≤1.8v为合格。 如图2—3接好电路，然后接通电源，调整Ei（Ei为稳压电源输出电压，可调整，作为与非门的输入电压）由“0”升高，当VO下降到VOL时，记下Ei，即VON。 （4）关门电平Voff Voff是指使与非门输出端处于高电平状态所允许的最大输入电压。Voff≥0.8V为合格。 如图2—4接好，然后接通电源，调整Ei使它从+3V减少，当V0上升到VOH时的输入电压Ei即Voff。 （5）扇出系数 NO NO是说明输出端负载能力的一种参数，它表示驱动同类型门电路的数目。NO的大小主要受输出低电平时，输出端允许输入的最大电流的限制，如灌入负载电流超出该数值，输出低电平将显著提高，造成下一级逻辑电路的错误动作。 如图2—5接好电路，然后接通电源，调整模拟门负载RL，当VOL达到0.4V时的IOL即TTL所能允许的最大灌电流IOL （输出端不允许直接接Vdd或Vss）。然后接图2—6接好，接通电源。测输入短路电流IiL。 扇出系数可按下式求得： NO=IOL/IIL （6）功耗POW的测量： 与非门的空载功耗是当与非门空载时电源总电流ICC与电源VCC的乘积。当输出为低电平时的功耗称为空载导通功耗POW，当输出为高电平时的功耗称为空载截止功耗POFF。如图2—7，当局输出为低电平时，测出电源总电流IOC，则POW=ICC·VCC。 （74LS20ICCL≤14mA） 2.CMOS与非门主要参数的测试：选择CD4011 选择5V电源电压，在集成块接通前，要注意CMOS门电路不用的输入端不能悬空，应根据不同的逻辑情况，分别接到VSS或通过几十千欧的电阻接到VDD或者与旁的输入端一起并用。 （1）VOH的测试 （2）VOL的测试 （3）VON的测试 （4）Voff的测试 五、思考题 1．CMOS集成块与TTL集成块在使用中有何区别？ 8 图2—7 图2—6 图2—5 ＆ +5V 100Ω + - VOL IOL RL=680Ω ＆ IL +5V 14 7 +5V I