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晶振与继电器多通道高精度可程控自动测试仪.pdf
晶振与继电器多通道高精度可程控 自动测试仪 王春燕 。等
晶振与继电器多通道高精度可程控 自动测试仪
ProgrammableAutomaticHighlyPreciseTesterwithMultipleChannels
forCrystalOscillatorsandTimeRelays
互春蒸 扬墨常 肇 慧 廉 夸
(西华大学电气信息学院,四川 成都 610039)
摘 要:为提高晶振与时间继电器的测试效率,实现仪器的便携性与可程控特性,设计了一种基于FPGA和LM3S8962的高精度智能
化测试仪。该仪器可以同时接收八路输入信号,自动测试完毕后 ,在TfTr液晶屏上实时显示测量结果、绝对误差和相对误差。实验表
明,测试仪具有较小的测量不确定度和较高的工作效率。
关键词 :晶振 继电器 单片机 FPGA 可编程控制
中图分类号 :TP216 文献标志码:A
Abstract:Inordertoenhancethetestefficiencyforcrystaloscillatorsandtimerelays,andmakethetesterprogrammablecontrolledandporta—
ble,thehighlyaccurateintelligenttesterbasedonFPGAandLM3S8962hasbeendesigned.Thetesterisequippedwitheightchannelsforeight
signalsinputsimuhaneously.W henautomatictestcompleted,themeasurementresults,absoluteermrsandrelativee~ors aredisplayedonTFT
liquidcrystalpanelinrealtime.Theexperimentprovesthatthetesterofferssmalleruncertaintyofmeasurementandhigherefficiency.
Keywords:Crystaloscillator Relay Singlechipcomputer FPGA Programmablecontrol
频、计数、闸门控制等功能。被测时间继电器的信号和
O 引言
基准频率信号在单片机的控制下进入 FPGA,由闸门控
在国防航空、工业电子、科研计量等领域,通常采用 制模块和计数模块完成继电器高脉冲下的时标计数 。
传统的计数器或示波器等测试设备对所用晶体振荡器的 继电器吸合的同时,FPGA停止计数,然后单片机
谐振频率及频率准确度进行检测。这种检测方法存在效 读取测量结果,并计算误差 ,最后将测量和计算结果送
率低、测试不方便等问题,且实际应用中的时间继电器,由 到TFT上进行显示。测量晶振精度时,外部基准频率
于磨损和老化,其精度和可靠性会逐渐降低。 源切换到铷标,此时基信号经过分频形成 1~1000S
为保证产品质量 ,必须对晶体振荡器的谐振频率 的精确闸门时间,这时作计数脉冲的是被测晶振。
和频率准确度进行定期测量 ,但是一般测量方法精度 2 硬件总体设计
不高、通道少 ,必须人工值守,无法实现测量的自动化。
因此,提出了可程控的晶振与继电器高精度测试仪,它 整个系统的设计主要包括单片机与FPGA组成的
仅采用一台仪器来完成晶体振荡器和时间继电器的测 主机测试系统、键盘 、液晶显示 、通用接 口模块 、被测继
试,大大降低了成本 ;并且仅通过软件菜单的选择 ,就 电器组/晶振组以及上位机虚拟仪器控制模块等 。
可以切换为内部测试模式。总体而言,它是一台高准 硬件电路整体框图如图1所示。
确度、高精度的自动测试仪。
1 系统
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