用于TDI型CMOS图像传感器中列级ADC及读出电路设计.pdfVIP

摘要 时间延迟积分(TDI)型CMOS图像传感器可以对同一物体进行多次扫描， 并把扫描得到的信号进行低噪声累加，所以它能够达到很高的灵敏度和信噪比， 非常适合应用在暗光拍摄和高速扫描拍摄的条件下，在工业检测和航空拍摄等领 域具有很高的应用价值。ADC及读出电路是TDI型CMOS图像传感器的重要组 成部分，列级ADC相对于芯片级ADC，它的处理速度快，相对于像素级ADC， 它的面积和功耗小。所以本文研究了TDI型CMOS图像传感器的工作原理和设 计方案，重点对其中的列级ADC及读出电路进行了研究和设计。 相对于电流累加方式，电压累加方式的列FPN和功耗较低；相对于传统的行 滚筒式曝光方式，改进型行滚筒曝光方式对同一物体曝光的一致性更好，所以论 文中TDI型CMOS图像传感器选用电压累加和改进型行滚筒曝光方式的方案。 对于列级ADC，常用的结构有单斜ADC、逐次逼近ADC、迭代算法ADC等， 这几种结构都能满足论文指标中对ADC的速度要求，但是单斜ADC的功耗低， 结构简单，便于列级版图实现，所以论文中采用单斜ADC的结构。结合系统整 体的要求，ADC采用误差校正技术提高了数据精度，采用比较器失调消除技术 保证了良好的列间一致性，并且后续读出电路中采用正反馈型寄存器，提高了电 路的可靠性。 器中列级ADC及读出电路进行了前仿真验证、版图设计和后仿真验证。仿真结 耗为120mW，这说明论文中设计的列级ADC及读出电路能够实现其功能并且满 足系统的指标要求。 关键词： CMOS图像传感器时间延迟积分电压累加型单斜ADC ABSTRACT TDICMOSsensor canscansame for timesandaccumulate image objectmany the withlownoise．ThereforeitCanachieve and to signals highsensitivitysignal noiseratioandis suitableforlow and conditions．Ithas very lighthigh speedscanning valuein industrialdetectionandaerial areas．ADC veryhighapplication photography and readoutcircuitsare ofTDICMOSsensor． subsequent veryimportantparts image Column levelADChas convention with level higher speedcomparingchip ADC，and itconsumeslower andsmallerareas with level powerdissipation comparingpixel ADC．In the thisthesis and were the studied，and operatingprincipledesignprogram wereto and columnlevelADCand