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武汉理工大学资环学院 管俊芳 * 2.1.4 other methodsa)??Electron Probe Microscopic analysis 电子探针(显微分析仪) Similar to XRF. But the light source is electron beam, and the analysis only be in a very small region. So it is called micro-region chemical analyzing method).Two kinds of result: Wave disperse Spectroscopy Energy Disperse SpectroscopyElement range: Na11 - U92Concentration range: %wt – ug/g( It also can not distinguish the different charges of the same element, for example: Fe2+ and Fe3+). 武汉理工大学资环学院 管俊芳 * b)? AES(Auger electron spectroscopy) 俄歇电子谱仪 light source: electron beam condition: vacuum Similar to EPMA. Using special detector determine the energy of the Auger electron. It can only determine the chemical composition of the very surface layer. (5-20A)c)? Element Analyzer: 元素分析仪 Organic analysis Five elements Quantitative analysis: C, H, O, N, S: 武汉理工大学资环学院 管俊芳 * c)?Chromatogram (色谱分析) Two kinds: gas, liquid: (气相色谱仪、液相色谱仪) C,H,O,N,S Qualitative. Mainly to determine the structure of the organic. For example, the length of the carbon chain.d)?Mossbuare Spectroscope: 穆氏保尔谱仪 (穆谱) To determine the ratio of the different charges of the same element. For example, Fe2+/Fe3+…e)?Backscattering Spectroscope: 背散射电子谱仪 To determine the depth of the elements in the plate sample. 武汉理工大学资环学院 管俊芳 * Composition analysis: Bulk analysis, micro-region analysis, surface analysis, Isotope ratio analysis, organic analysis general – micro –hint analysis. Charge analysis circumstance of elements analysis 武汉理工大学资环学院 管俊芳 * 2.2 Structure Analysis2.2.1 X ray diffraction (XRD) X射线衍射a)?single crystal method: single crystal: 50um - 0.5 mm. Light source: characteristic X ray instrument: four-circle single crystal x ray diffract-meter. 四园单晶x射线衍射仪 Mainly to determine the structure of the new material. In some cases, to determine the cry
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