基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究.pdfVIP

第30卷第6期增刊 仪 器 仪 表 学 报 V引．30NO．6 2009年6月 ChineseJoumalofScientificInstrument Jun．2009 基因芯片荧光靶点图像检测识别算法改进研究 刘军’’2赵吉宾1刘伟军1 王天然1 110016：2中国科学院研究牛院，北京100039) (1中国科学院沈阳自动化研究所T业信息学重点实验窜，沈阿l 摘要j在基田芯片分析系统中，基闪芯片荧光靶点图像的正确榆测识别是基两特异性表达信息提取的必要前提。存荧光靶 点枪测识别过程中，由于沾污、瑕疵、离焦等凶素的影响，荧光靶点图像的信噪比锻低，很容易将污点、基片瑕疵等噪声点 误识别为荧光靶点，而将沾污的荧光靶点误识别为噪卢点。红原算法基础t，为进‘步降低误识jjU率和提高检测精度，提出 基于靶点分割图像重心和目标背景面积比的改进的荧光靶点检测谚{别算法。实验结果表明，与原算法相比，采j|J新算法将正 确识别率提高到90％以上。 关键词：基因芯片荧光靶点图像检测识别 目标重心 I-t标背景面积比 ResearchontheIm for and Detection provementMicro—arraysSpotImage RecognitionAlgorithms LiuJunl2ZhaoJibin’Liu Tianranl WeijunlWang (1 Chinese 110016 Key LaboratoryofIndustriallnformaticsShenyangInstituteofAutomationAcademyofSciencesShenyang 2the China GraduateSchool 100039China) ofChineseAcademyofSciencesBeijing Abstract：In accuratedetectionand of genechip(i．e．，Micro-arrays)analysissystem，the recognitionarrayed fluorescent isthe for differential information the spotsimages prerequisitestep gene expression distilling．In of detectionand noiseratio causedtheeffectsof processspot recognition，thespotimagesignal degradationby anddefocus leadstothe resultsthattheblursandflawsare contamination，flaws directly disappointing recognized as as true butblurred noisedots．Tofurtherlowertheerroneous rateand the spots spo