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中国电子学会敏感技术分会第十四届电压敏学术年会论文专刊
Ti02添加剂对氧化锌压敏电阻作用机理的
研究
髓searchofmnctionmechanismforZno垤risto瑙埘thadditi他
Ti02
孙丹峰1’2邴绍同1’2陈明1’2傅静3何忠伟3
1江苏省净化工程技术研究中心苏州2150ll
2苏州中普电子有限公司 苏州215011
3同济大学材料科学与工程学院上海200092
接耍:
粒尺寸随烧结温度提高而增大。烧结温度1100℃以上时,与固态ZnO反应生成Zn:TiO。尖相石相,阻碍晶粒进一步生成。
关键词: 二氧化钛添加剂氧化锌压敏电阻作用机理
1前言 位式地进入znO晶粒的表面晶格,引起晶格畸变而使晶格
低压氧化锌压敏电阻的成分非常复杂,除主基料zn0活化。
(2)变价元素Ti在高温下还原,周围出现一定数量的
外,掺杂元素有Bi、Ti、Co、Mn、Cr、Ni、sn、Ba、sr、
氧缺位Vo。这种氧缺位有利于质点扩散,促进固相传质,
Al等十几种氧化物(有的还含有极少量的sb),它们对压
敏电阻的微观结构和宏观电性都有影响,而且几乎均为交 Ti0:与Bi20,形成低熔点化合物液相。
又性影响叶51。为了避免次要因素的干扰,能够清晰、直观 (3)这种液相有润湿、粘结和拉紧作用,强化了粉
地分析主要添加剂的作用,必须将实际体系加以简化,从 料颗粒之间的接触,使Tio:对扩散传质的作用大大的加
简化的体系中得到适用于实际体系的普通规律。 强,促进zn0晶粒的生长。
(4)同时在znO晶格位置中Ti被电离成+4或+3价的
前人研究证明,Bi:O,和Ti0:是实现压敏电阻非线性化
和低压化最基本也是最关键的添加剂。分析发现Bi:0,和有效施主,使耗尽层中有效施主浓度增加,降低了势垒高
TiO:在低压压敏电阻中的掺杂比例远高于其他掺杂元素。 度,从而使氧化锌压敏电阻的电压梯度减小P叫。
为此设计了两个最简单的低压氧化锌压敏电阻体系:
Bi:0,的熔点为825℃,比ZnO和其他添加剂的熔点要
低,在烧结温度较低时就熔融为液相,推动并促进主晶相
样,并与znm—Bi20,二元体系试样对比,分别进行sEM观
znO晶粒的生长,并使掺杂施主离子均匀地固溶入Zn0晶粒
察和xRD分析,研究Bi:03和Ti0:对ZnO晶粒尺寸的影响。
中。由于Bi3+离子半径102pm比zn2+离子半径74pm大,不能
进入zn0晶粒而是以富Bi相的形式偏聚于晶界,富Bi相可固
2实验过程
溶人许多掺杂元素(Mn、cr等),由此形成晶界势垒即形
成非线性的伏安特性[6】。 采用普通微米级Ti02制备zn0一Ti0:二元系试样和
Ti是不稳定的过渡金属,易变价且具有较大的电子亲 zno—Bi:03一Ti0:三元体系试样,生坯分别在900℃、
和力。
别进行sEM观察和XRD分析。
(1)Ti4+离子半径为61pm,Ti3+离子半径为67pm,
为了研究zn卜Bi:03—_Ti0:三元体系试样中Bi:0,和Ti02
比zn2+离子半径74pm小,但又相近,所以Ti以Ti4+或Ti“替
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