多通道大功率LED热阻测试仪的开发与研究.pdfVIP

第六届中国国际半导体照明论坛 6thChinaInternationaIForumOnSoIidState Lighting 多通道大功率LED热阻测试仪的开发与研究 程备1，一，殷录桥1，一，廖翊诚m，张建华m，杨卫桥3，马可军3，李抒智3 1上海大学机电工程与自动化学院，上海市延长路149号，邮编200072 2新型显示技术及应用集成教育部重点实验室(上海大学)，上海市延长路149号，邮编200072 3上海半导体照明工程技术研究中心，上海祖冲之路887弄78号5楼，邮编201203 ㈩ 摘要 耻警 本文基于动态电学法．研翻开发出多通道大功 公式中： 率旺D热阻涌试仪器，通过实际热疆溅试表明该 RJx：待测器件PN结到指定环境之间的热阻单 仪器具有操作界面简单方便、溅试时间短、全自动 位：℃／W； 化洳量以及司以同时酒量多个器件等特点。 TJ：在一定测试条件下的待测器件的结温， 引言 单位：℃； LED被认为是21世纪最具前途的照明光源。大 Tx：指定环境的参考温度，单位：℃； 功率LED则是半导体照明中的关键器件。但是在大 PH：待测器件的耗散功率，单位：W。 功率LED的输入功率中，只有20％左右的能量转化 为光能，其它的则转化为热能通过LED的热沉传导 动态电学参数法 到外部环境。大功率LED散热性能的优良直接关系 本文对结温和热阻的测量采用的是动态电学 测量方法【5，6·7一，测量电路原理图如图1所示。图中 到LED的结温，进而影响LED的出光效率，发射波 长，器件使用寿命，可靠性等。热阻 IM为基准电流即小电流，IH为测试电流即大电流。 值是恒量大功率LED散热性能的关键参数。因 此，准确高效的测量大功率LED的热阻值对大功率 LED封装企业设计大功率LED器件的封装结构和大 功率LED应用企业选用大功率LED器件提供有力的 支持，具有重要的实际应用价值【1．zj。 目前对半导体器件工作温度和热阻的测量方 法【3】有红外热像仪法、电学参数法、光谱法、光热 1．．．．．—．．．．．j 阻扫描法及光功率法等。本文选用具有测量效率高、 成本低、对器件无损伤、较易实现等优点的动态电 图1．测量电路原理图 学法，并通过图形化编程语言LabV|EW的编程，在 前期已经开发的单通道大功率LED热阻测试仪基 利用发光二极管PN结的正向压降VF与PN结的 温度成线性关系的特性f8】，结温的变化量与相应的 础上，实现了多个大功率LED器件节温和热阻值的 测量、整个测试过程的控制以及测量数据的处理， 结正向电压的变化量就存在很好的线性关系，其比 从而建立自动、准确、高效的大功率LED热特性分 例系数为K。通过测量不同电流下结温变化引起的 结电压增量△VF和K因子来得到发光二极管的结温 析测试系统，实现对多器件大功率LED结温和热阻 准确和快速的测量。 变化量△TJ。故对应于TJ有：