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第九届高功率粒子束学术交流会议文集 喷气负载线质量密度测量的几种方法 张信军邱爱慈 蒯斌王亮平丛培天 (西北核技术研究所，陕西西安71002” 摘要，微型快速电离规法、压力探针法和干涉法是常用的测量喷气负载线质量密度的方 法。本文简单介绍了这三种方法的工作原理，并对干涉法的应用作了进一步的说明。 关键词：喷气负载，密度测量 高功率z箍缩是目前研究的热点之一，它能产生强的x射线，是一个非常好的脉冲X射线源， 具有广泛的应用前景。目前用于高功率z箍缩的负载主要有两大类：喷气负载和丝阵负载。喷气负 载装置简单，效果较好，在z，pinch研究中占有很重要的地位。但是，喷气负载轴向密度分布不均匀， 容易产生“拉链”现象，这会对结果产生很大的影响。因此有必要研究它的初始密度分布以便于改 进喷嘴结构，使“拉链”现象减轻，改进其内爆动力学特性。目前，通常采用的手段是：首先测量气流 层的密度分布n％y，z)，然后对其进行体积分计算出负载质量线密度。常用的测量密度分布的方法有： 微型快速电离规法、压力探针法和干涉法。 1 基本原理： 1．1微型快速电离规法 ． 微型快速电离规法‘1，21工作原理图见图1。加热阴极使其发射电子，电子在向加速极的运动过程 中与气体分子(或原子)碰撞，导致其电离。正离子被收集极收集，并在采样电阻民上产生电压信 号V。。当保持发射电子流不变时V。正比于气压P。 融一划-蛐●■· 图1 电禹规电路 该方法相对简单，但每次喷气时只能测一个点，因而对喷气场的重复性要求较高。并且电离规 的存在会对气体密度分布有影响。 1．2压力探针法 压力探针法‘3，4】是利用微型压力传感器测量喷嘴喉部的气体总压，并结合气体动力学公式进而算 得喷气z箍缩气体负载的线质量密度。 为了求得负载线质量密度Ⅳo吡(D与环状超声喷嘴最大截面前(见图2)气体压强Pinl。。(D的关系式， 可利用气体通过环状超声喷嘴的消耗公式，它将喷嘴出口处气体动力学参数与喷嘴最大截面处的参 ～204～ 第九届高功率粒子束学术交流会议文集 数关联起来： O)·s。m=刀盯O一△f)·口。，O一△f)-s盯 (1) 即。。。O)·口。m 式中门。，和行。m分别为最大截面处和喷嘴出口处的粒子密度，口。三d。。肌d和口0。t分别为最大截面 处＆和喷嘴出口截面。。处气体通量速度，△f为喷嘴里波阵面传播时间。 最大截面处气体密度押。，与最大截面前气体密度咒inln有如下关系式： 2 昭’(2) ％：f—L卜‰。 ‰r I而j馕inlet 而‰let(f)与压强尸inl甜(D关系由下式表达 ‰“，=是·(掣丁 ㈤ 式中昂。。。。和昂l。。。。分别为气体压强和温度，七为波耳兹曼常数，尸j。l。。为在环状超声喷嘴前测量 的气体压强。系数口为过程常数(依赖由电磁阀结构特点和气体种类)。 图2 压强Pinlet测量图 l一电磁阀，2一环状超声喷嘴，3一喷嘴最大截面处，4一压力传感器。 该方法属于间接测量方法，对气流的影响不大。缺点是准确测量喷嘴喉部的气体总压有一定的 难度。 1．3干涉法 干涉法协’61通过干涉条纹移动数来确定被测流场密度。 设探测光线为直线，并且沿x方向传播。在无折射的条件下，探测光线由相位物体所引入的程 差△①由下式给出： △①(y，z)=I[，2(z，y，z)一刀o]出=Ⅳ兄 (4) 式中，2。是无流场时的静态折射率，一般为常数；船0，J，，z)为曝光时相位物体的瞬时折射率分 布，N为条纹移动数，入是探测光波长。可以用无流场时的干涉图作为