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2017-08-21 发布于安徽
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平面顯示器檢測標準與量測不確定度探討.pdf

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平面顯示器檢測標準與量測不確定度探討林增耀田立芬吳貴能方承彥簡育德工研院量測技術發展中心台灣新竹本文探讨平面顯示器TFT-LCD製程監測及面板影像品質相關之計量標準及不確定度分析。 TFT-LCD是台灣繼半導體產業後，另一兆元重點產業，然相關製程與成品品質相關檢測及追溯系統並不完整。如Mura係影像色度與亮度不均匀的现象，不只定義不清，檢測方法不一，更缺乏具追溯性之檢驗儀器。本研究探讨(1)面板製程的膜層尺寸檢測及光學特性檢驗，著重誤差影響因子探讨及具溯源性 AOI檢測儀器開發；(2)面板關鍵参數標準溯源(traceability)及計量標準的發展。如灰階應答時間、Mura缺陷標準、影像品質評價。本研究成果可提升面板品質水準，經由量化評價系統，使高品質面板價值得以彰顯，也可以自勤化檢測儀器，改善现行人工檢驗效率。 ~omer或Cauci 為反射光若標 }追溯備測量斥 2]0本研疋陪應答時間檩準追溯于，，勺—、r7117I 冀標準接j 平面顯示器檢測標準與量測不確定度探討作者：林增耀，田立芬，吳貴能，方承彥，簡育德作者单位：工研院量測技術發展中心台灣新竹引用本文格式：林增耀.田立芬.吳貴能.方承彥.簡育德平面顯示器檢測標準與量測不確定度探討[会议论文] 2009