聚四氟乙烯密封材料电子束辐射效应研究.pdfVIP

! 第(2 卷! 第( 期 原 子 核 物 理 评 论 :CDE (2 ，FC4 (! ! (##’ 年’ 月 FGHD9A I/JKHJ L9MK9N OG?4 ，(##’! ! ! 文章编号：##$ % ’($ （(##’ ）#( % #)# % #* 聚四氟乙烯密封材料的电子束辐射效应研究! ( 黄! 玮 ，韩! 军 ，许云书 ，傅依备 ，何! 捷 （ 中国工程物理研究院核物理与化学研究所，四川 绵阳! ’(+## ； ( 四川大学辐射物理及技术教育部重点实验室，四川 成都! ’##’ ） 摘! 要：采用低能电子束辐射系统地研究了操作氚系统用密封材料（聚四氟乙烯）的辐射效应。利 用扫描电镜和, 光电子能谱仪分析了材料的表观形貌和表面元素的变化，用, 射线粉末衍射仪 和热分析仪分析了辐照前后材料的结晶度改变和热稳定性程度，并利用气相色谱仪和质谱仪测定 了辐射降解气体的成分和生成量随吸收剂量的变化规律。采用电子自旋共振谱仪研究了材料在辐 照过程中产生的中间体（自由基），利用正电子湮没寿命谱仪分析了材料中的自由体积孔洞及浓 度。结果表明，辐照前聚四氟乙烯样品的表面是规则的带状晶形结构，经 - #* ./ 辐照后样品 的晶状结构遭到了明显的破坏，向非晶态转变显著。辐照后样品的熔点和热分解温度均呈下降趋 势，表明样品的热稳定性降低。聚四氟乙烯材料在氧气气氛中发生的辐射降解最为严重，其次是 真空，而在氘气气氛中辐射降解最少。材料的辐射降解主要发生在主链上，即0—0 键断裂，而 侧基0—1 键的断裂相对较少。第三寿命强度! 的变化规律与 相反，即随吸收剂量的增大，第 2 !2 三寿命的强度!2 降低，表明自由体积孔洞的浓度降低。 关 键 词：聚四氟乙烯；电子束；辐射效应 3’ 4 ( ；562’! ! ! 文献标识码：7 中图分类号： ! 引言 材料具有辐射损伤作用，使得聚四氟乙烯（51= ） 垫圈的使用期限大大缩短。因为从氚系统中取出待 ! ! 在气体操作系统中，垫圈、阀门密封胶、泵油 分析的高分子材料存在表面去污和后处理等问题， 等高分子材料的失效引发了许多意想不到的事故， 并且由于直接检测氚系统中高分子材料辐射老化的 特别是在操作运行放射性气体（如氚）时情况更为 手段有限，因此分析和测试具有相当的复杂性和难 严重。氚放射出的! 射线平均动能为* 4 $ 89: ，其 度。国内外关于51= 的辐射工作很多［(—$ ］，涉及 ［］ 能量比破坏化学键所需的能量高 ### 倍 。气体 到辐射交联、辐射接枝和辐射降解等工艺和基础研 操作系统中的一些材料或材料中的部分填料是高分 究。本工作采用低能电子束模拟氚发射出的! 射 子材料，在氚的长期作用下会发生辐射损伤，导致 线对51= 进行加速辐射试验，目的是为氚系统的 材料的理化性能趋于劣化。材料老化降解产生气体 运作安全性研究提供一定的依据。 小分子，出现裂纹，严重时产生粉化现象。特别是 含氟材料，降解时产生的;1 和51 等腐蚀性气体 # 材料和实验方法 还会进一步作用于金属部件，诱发输气管道氢脆或 腐蚀。美国和日本在这方面做了许多研究，但它们 ! ! 所用密封材料为氚系统用阀门垫圈和