应用热成象技术测量高温气流温度场.pdfVIP

中国工程热物理学会 编号：983017 传热传质学术会议 应用热成象技术测量高温气流温度场 朱德忠廖理 清华大学工程力学系航空工业总公司304所 摘要 应用TVS一2200型热成象系统铡量高温风洞中高速高温气流温度场．将热电偶温度传感器的碳 化硅外壳作参照物，用热像仪测量参照物的表面温度，再根据参照物与气流之间的对流换热系数推算 气流的真实温度分布。 关键词热成象，温度场，参照物，高温风洞 1前言 高温风洞的温度高达1700℃，流速达09马赫数。为了测量风洞中气流温度分布 的均匀性，通常采用铂铑30一铂铑。o热电偶温度传感器，但是它只能采用逐点移测法， 因此它不可能在同一时刻将一条检测线上气流温度测量出来。同时在高温气流测量时， 热电偶接点由于存在辐射误差等会使热电偶接点温度低于气流温度，因此必须进行误差 修正，在修正辐射误差时必须知道温度传感器外壳温度，通常要测定外壳温度亦是困难 的。为了能在同一时刻测量沿径向的气流温度分布，可以利用热成象技术测量温度传感 器的外壳温度分布，再根据温度传感器外壳在气流之中的热平衡方程推算出气流温度分 布。由于用热像仪可以测定温度传感器的外壳温度，因此对热电偶的辐射误差修正可以 获得可靠的依据。这样用双铂铑热电偶可以更准确地测得气流温度。当然用热像仪可以 直接测量燃气的熟辐射亮度但是辐射亮度来推算燃气的真实温度必须已知发射率，燃气 发射率是很难测定的，往往估计误差较大，因此直接根据燃气的辐射亮度来推算气流温 度可能会带来较大的误差。利用热电偶温度传感器的外壳作为参照物，用热像仪测量参 照物的表面温度，然后依据热平衡方程和参照物与气流之间的对流换热系数可以推算出 气流的真实温度分布。 2测量原理 将Tvs一2200型热像仪置于垂直于高温气流，离待测气流约1．5米处，瞄准热电 偶温度传感器的碳化硅支杆，该支杆星扁平状截面(长20mm，宽8mm)，支杆长度 Ⅶ一9 芰杆内安装二支热电偶可以同时测量二点温度，它可作为利用参 度分布的基础。由于碳化硅支杆的发射率较高，因此它有较强的 来测量它的辐射温度。然后根据碳化硅的发射率修正求得碳化硅 f温气流之中，受到气流强烈的对流换热，同时参照物表面温度报 I射散热，当达到热平衡时，参照物的表面温度和气流温度将满足 周围环境的辐射热流可用热像仪来测定，因此若事先能确定参照 ：接可由参照物的表面温度分布推算出气流的温度分布。 度的测量和真实温度的计算 、 热像仪拍摄参照物的热像图如图l所示。热像图记录的是碳化硅 ～5．4／am的热辐射强度，但是热像仪按照黑体性质给出的是参照 融像使的蓥奉原理了_哥以击斌一‘4j、隶得参照物的表面温度L： 兰2 (1) i 豫物的表面温度K }的辐射温度K 物的发射率 K i取要根据TVs一2200型热像仪接收的辐射波段3～5．41am来确 瀚敏感元件是锑化铟，它最敏感的波长为42ram。从物性手册上 ，1400K时，碳化硅的发射率为0．82。虽然从手册上查到的发射 {化硅参照物的发射率不会相同，但是从式(1)可见发射率选取 度计算影响是较小的。发射率偏差对参照物表面温度偏差的影响 一1—A—6 (2) 4s i相对偏差传递给表面温度相对偏差仅为l／4。 磴霞豳黼 图1参照物热像图 P算 在求得参照物表面温度之后，利用参照物在热气流中的热平衡方程，可计算气流温 度分布。对参照物可按一维导热方程来分析，由于参照物在风洞中已处于稳态，且沿参 照物的轴向导热远小于对流换热，因此参照物的热平衡方程可写为： qI一乙)=∞(露一r4) (3) 式中，L为气流温度K Tw为参照物表面温度K h为对流换热系数W／m2