岛津IG—1000在纳米材料粒径分析中的最新应用.pdfVIP

2010年10月27日q9日2010年仝陶高分子村料科学与工程研讨会 中国南吕 F．O．02 岛津IG．1000在纳米材料粒径分析中的最新应用 陈艳风 (bscyf@shimadzu㈣n) 『岛律国际贸易(上海)有限公司．北京市朝阳区朝外大街16号中国人寿大厦14层1 随着纳米科技的发展，人1fj对纳米粒于的粒径关注度越束越高，因为粒子粒径的大小会 直接影响到粒子的分散和排布，“影响到后续实Hj性部什的性能。目6现有的纳米粒子粒径 表征手段。丰要是动态光散射(DLS)的方法。DLS方法的标称测定下限。般是1纳米左右． 标称h限可以到几个微米。从实际测定结果来看，并非如此，1个纳米左右的粒子信号非常凌 乱．人粒子的信号会将小粒子的信号淹没．从而造成宽分布粒子或者棍含粒子的测定结果存 在失真。另外，DLS方法得到的结果往往和电镜得到的结果不吻台。 经过多年的研究．岛津公司推出了划时代的单一纳米颗粒测定仪器IG—1000．并在2009 现存的问题。 与以往粒度测定仪器原理不同．10方法(Inducedmethod)是岛津公司开发的独