HT-7托卡马克上内模不稳定性的动力学行为研究.pdfVIP

全国博士生学术论坛(物理学) 中国科学院研究生院 北京 Doctoral Forum of China in Physics, GUCAS, Beijing 论文所属分论坛： 粒子物理与核物理 HT-7托卡马克上内模不稳定性的动力学行为研究 孙有文，万宝年，胡立群，沈飙，陈忠勇，丁伯江 中国科学院等离子体物理研究所，合肥市1126信箱（230031） 文 摘:在HT-7托卡马克上低杂波放电条件下，我们曾观察到一种新的内模不稳定性， 它的模数是m/n=1/1 [Youwen SUN, et al., Plasma Phys. Control. Fusion 47, (2005) 745] 。 这支模出现在锯齿不稳定性的上升阶段，随后饱和衰减并且在下一次锯齿崩塌和锯齿前 兆模出现之前消失。因为它出现在两次锯齿崩塌中间，为了与前兆模和后续模相区别， 我们称之为“中间模”。通过改变低杂波电流驱动的相位角可以得到不同的等离子体电 流密度分布，最近我们还在实验上研究了这支模在不同电流密度分布下的稳定性行为 [Youwen SUN et al., The 5th General Scientific Assembly of Asia Plasma Fusion Association , Jeju, Korea, August 29-31, 2005, TO1 (Oral Talk)]。这支模很可能是电流密度 梯度驱动的。本文通过考虑中间模引起的快电子输运效应来研究这支模的动力学演化。 Z. Chang 和 J. D. Callen 在局域输运理论的基础上研究了磁流体力学不稳定性使得能 量约束恶化[Nucl. Fusion 30, 219 (1990)]。在这个模型中，假定了磁流体力学不稳定性只 影响他们所发生的区域，而不影响其它区域。由于沿着磁力线的平行输运非常大，假定 了在磁岛的区域输运系数D→∞。应用这一模型我们发现，当低杂波沉积位置半径小于 共振面半径时，由于磁流体力学不稳定性共振面内部的快电子密度将会下降，而在共振 面的外部快电子密度略微上升。在 HT-7 上低杂波放电条件下，相当一部分等离子体电 流是由低杂波驱动的快电子携带的。因此，快电子密度分布的平化将会导致电流密度分 布的平化。故而，在下一次锯齿崩塌之前，平化的电流分布会使得中间模再次稳定。通 过引入磁流体力学不稳定性引起的快电子输运效应还可以解释在 HT-7 上观察到的一些 锯齿行为。 关键词：内模不稳定性，锯齿，HT-7托卡马克，低杂波电流驱动，快电子，输运。 1 全国博士生学术论坛(物理学) 中国科学院研究生院 北京 Doctoral Forum of China in Physics, GUCAS, Beijing Investigation of the Dynamics of the Internal Mode Instability on the HT-7 Tokamak Youwen Sun, Baonian Wan, Liqun Hu, Biao Shen, Zhongyong Chen and Bojiang Ding Institute of Plasma Physics, Chinese Academy of Sciences P. O. Box 1126, Hefei 230031, China