XRD+法快速测定铝电解质成分和分子比的应用探讨.pdfVIP

XRD 法快速测定铝电解质成分 和分子比的应用探讨 李建智 （陕县恒康铝业有限公司，河南 陕县 472100） 摘 要：作者提出了一种全新测定铝电解质成分方法 XRD 法即 X 射线衍射法。采用 X 射线衍射仪在 3 分钟时间内，可以准确的测定出铝电解质中的冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化锂、氟 化钾、游离氟化钠、游离氟化铝等含量大于 0.5%物相，并根据各物相的成分含量，计算出指导铝电 解生产的分子比。为了此方法的应用推广，研制了一套适合测定上述成分的铝电解质标准样品。 关键词：铝电解质；成分；分子比；应用 现代铝电解质成分佷复杂，含有冰晶石、亚冰晶石、氟化钙、氧化铝、氟化镁、氟 化锂、氟化钾、游离氟化钠、游离氟化铝等9种成分，在铝电解生产中，一般情况下只 添加氟化铝来控制分子比，氟化锂、氟化钾等是学者研究低温铝电解时人为添加的，由 于氟化锂价格昂贵，妨碍了它的应用。但是由于国产氧化铝粉中含有一定量的锂、钾等 微量元素，长期使用在电解质中不断富集，当铝电解质中的氟化锂、氟化钾含量达到了 3%时，电解质的性质已经发生了明显的变化，铝电解工艺要变，对于分析铝电解质成分 的方法也要变，为此建立了一套分析铝电解质成分的新方法—XRD 法。同时，根据中南 大学刘士军教授提出的电解质分子比新定义计算出新定义的分子比[3]。本文将就XRD 法 测量铝电解质成分的分析、新定义的分子比及实际应用等问题进行探讨。 1 电解质成分的分析 重点以氟化钙、氟化钾为例进行分析。 1.1 氟化钙成分的分析 铝电解质中的氟化钙的测量方法用两种，一种是化学法，另一种是仪器法（钙通道 测量法，X射线衍射法）。本文将重点分析X射线衍射法。 1.1.1 化学法测定氟化钙含量： 试样以高氯酸分解，用盐酸溶解盐类，以氯化锶作释放剂，消除铝对钙的干扰。用 1 空气-乙炔贫然性火焰于原子吸收光谱仪波长 422.7nm 处，测量氧化钙的吸光度，计算 氟化钙的质量分数。 1.1.2 X射线衍射法测定氟化钙含量。 表1 X射线衍射法测定氟化钙含量与化学法分析数据比对 化学值 7.66 10.8 6.51 5.17 4.67 4.24 4.18 4.40 4.58 4.38 5.14 XRD 7.99 10.7 6.14 5.41 4.48 4.61 4.26 4.34 4.10 4.34 5.70 差值 0.33 0.1 0.37 0.24 0.19 0.37 0.08 0.06 0.48 0.04 0.56 采用 X 射线衍射法测定氟化钙含量的数值与化学法比对结果表明：新方法无论数据 的可信度及其重现性都优于钙通道法，由于其测量数度快，因此，也优于化学法。 1.2 氟化钾成分的分析 1.2.1 氟化钾在铝电解质中存在的物相。钾在铝电解质中以两种物相成分存在 K NaAl F 和K NaAlF 。 2 3 12 2 6 1.2.2 X射线衍射法测定氟化钾的含量。 XRD法与化学法分析值的差值在22个样品中小于0.20%的占82%，准确性非常好。 表2 化学法与XRD法测定氟化钾含量数据对比 序号 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 化学值 0.71 0.71 0.62 0.73 0.85 0.98 0.73 0.98 0.91 0.80 0.88 衍射值 0.76 0.86 0.82 0.85 0.94 0.98 0.81 0.86 0.80 0.74 0.82 差值 0.05 0.15 0.20 0.12 0.09 0.00 0.08 0.12 0.11 0.06 0.06 序号 12 13 14