BST薄膜可调FBAR器件的建模的仿真.pdfVIP

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V01.40 第40卷 增刊 电子科技大学学报 Suppl. ofChina l Journal ofElectronicScienceand Apr.201 2011年4月 ofUniversity Technology BST薄膜可调FBAR器件的建模与仿真 杨天应,蒋书文,赵 华,黎彬,姜 斌,李言荣 (电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点试验室成都610054) 反射层、BST薄膜性质等对FBAR器件性能的影响,设计了谐振频率为3GHz的BST薄膜FBAR器件.仿真结果表明,厚度为l,4 波长的4层Mo和Si02交叠而成的B啾射层能够对声漏损起到很好的抑制作用;机电耦合系数砰决定于BST薄膜的介电常 数。机电耦合系数越大,串并联谐振频率之差越大,单个FBAR的3dB带宽越宽;外加场强的变化引起BsT介电常数发生变化, 导致FBAR的机电耦舍系数(砰)以及纵向声速(’,)发生变化,串联谐振频率比并联谐振频率有更大的可调. 固态封装型 关键词Ba,Srl—Ji03;频率可调;薄膜体声波谐振器; 中图分类号TB34 文献标识码A doi:lO.3969/j.issn.1001·0548.2011.z1.023 Thin—FilmBulkAcoustic and ofTunable ModelingSimulating WaveResonator BaxSrl_xTi03(BST) Using YANG LI Shu-wen,ZHAOHua,LIBin,JIANGBin,and Tian-ying,JIANG Yan-rong ofElectronicThinFilmand ofElectronicScienceand ofChina (stmKeyI丑b憎atofy htcgraaxlDt;vio%University TechnologyChengdu610054) An thin-filmbulkacoustic Abstract circuitmodelfor mounted equivalenI Ba£SrIJi03(BST)solidly modeldescribesthe relative resonators(TFBARs)isproposed.The relationshipamong electromechanieal modeliS intheADSsimulation velocity“)。and COCfficient(砰).The coupling implemented resonatorsFBARag

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