光栅投影轮廓术的测量高度与适应性研究.pdfVIP

制造及自动化 光栅投影轮廓术的测量高度及适应性研究 林俊义刘华肖棋 1) (华侨大学模具技术研究中心泉州36201 摘要：针对光栅投影轮廓术的测量精度对待测物体缺乏适应性的特点，提出一种在彩色光栅投影下，用软 件实现两次变精度测量的方法，以适应待测物体形面的突然起伏；同时，根据彩色光栅的特点，用软件实 现提高系统的高度测量能力。实验证明本方法简单、可行。 关键词：光栅投影直接条纹位移分析法空间频率 1引言 随着反求工程的兴起，作为基础的三维形貌测量技术得到广泛的研究和发展。具有非接触特性的光栅 投影轮廓测量方法，由于其高精度、快速、实施方便等优点而被公认为最有前途的三维轮廓术方法。不论 是阴影条纹法、投影条纹法、还是如傅立叶变换等直接分析条纹法，都是利用一种空间频率的条纹对物体 进行测量，这样结构简单、容易实现。但是，这种方法具有一定的局限性，主要是对待测物体的形面缺乏 适应性。许多学者对此问题进行了研列1’2’31，提出了相应的解决方法。归纳起来有两种基本思路：一、 使用两种不同空间频率的光栅，逐次投影、测量；二、组成复合光栅一次投影、测量。两者都是利用两种 频率光栅各自的优点，使得问题得到解决。然而，这些方法都需要两种不同空间频率的光栅，而且由于空 间频率不能太高，使得通过双频测量来提高测量高度受到一定的限制。 基于以上分析，本文提出了一种在彩色光栅投影下，用软件实现光栅变频的方法，该方法只需一种光 、栅，一次投影、测量就可解决适应性问题；同时，可以把连续几种不同颜色的条纹看成是一个光栅周期， 这样相当于降低了光栅频率，可大大提高系统的高度测量能力。 2表面测量原理与方法 2．1测量原理 光栅投影轮廓测量的相交轴光学系统的结构原理如图 1所示。在图1中，尺为参考平面：C为CCD摄像机镜， 头光心：尸为投影系统镜头光心；日为被测物体上的任一‘ 点，其在参考面上的投影为，，线段肌的长度为h，即日 点的高度：么、B点分别是点H与两光心连线和参考面的 交点。 光束剐投射在基准面上的么点，放入物体后光束以 投射在物体表面上的日点。从CCD摄像机获得的图像中看 到，由于物体高度的变化使得光束从4点移到B点，移动 的距离为d。X轴取在参考平面上，垂直与光栅条纹方向： Y轴平行与光栅条纹方向；坐标原点0为摄像机光轴与投影 图1测量系统光路简图 装置光轴的交点。由光学系统可知尸C平行于X轴，口尸C日 与口彳B日相似，可以由变形条纹相对参考平面的移动距离 彳B=d得到H点的高度h为： h=dL／(D+e1) (1) 式中三、D为测量系统结构常数。由于d是从图像处理中得到的，而从图像中得到的只是象空间中光栅条 纹移动的像素数P，将其乘以每个像素的尺寸垅和成像系统的横向放大率∥，才能得到物空间光栅条纹 的移动距离d=pmfl。 2。2解调方法 由原理可知：要求得高度信息，关键在于求得变形条纹相对参考条纹的移动距离。这就需要对变形条 纹进行解调。本文采用直接条纹位移分析的解调方法【41，该方法的基本思想是：物体的高度信息是通过条 118 制造及自动化 纹的中心或边缘对物体表面的采样获得的，因此可以直接测量条纹中心或边缘的位移而不致丢失任何有效 信息。简述步骤如下：首先对参考平面光栅图片进行处理，找凹各个条纹的中心或边缘像素位置并加以保 存。测量物体时，对拍摄物体所得的变形光栅图片进行处理，找出其条纹的中心或边缘像素位置。对变形 光栅中的每条条纹，在参考光栅中找到与其相应的条纹，并按y方向像素坐标相等计算出光栅条纹移动的 像素数P，从而得到变形条纹的移动距离d。 3测量高度及适应性问题研究 3．1解调的软件实现 从解调方法可以看出：要实现直接条纹位移分析的解调方法关键在于： 图2部分参考彩色