常见硫化物表面的XPS的研究.pdfVIP

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  • 2017-08-16 发布于安徽
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第6卷第2期 高校地质学报 vol6 N。.2 塑!堑!旦!!型堡!堡!』!g塑!型曼b!塑堑!丝!墅!璧』!堡;垫Q! 文章编号:1006—7493(2000}02—0255;-05 常见硫化物表面的XPS研究 贾建业1,谢先德1,吴大清1,王建成2,王燕3 (1.中国科学院广州地球化学研究所,广州510640; 2河南辉县市地矿局,河南辉县453600; 3中国科学院长沙大地构造研究所,湖南长沙410013) 摘要:采用XPS分析方法,研究了黄铁矿、磁黄铁矿、方铅矿、黄铜矿、闪锌矿和毒砂等常见硫化 物矿物表面的化学成分及其化学态,从而探讨硫化物表面的氧化和次生变化。研究发现:(1)硫化 物矿物表面在氧逸度较高的情况下很容易发生变化,其氧化产物很复杂,主要是其金属元素的高 价态氧化物、氢氧化物和硫酸盐等;(2)就~般常见硫化物而言,相对比较稳定的是黄铁矿;(3)常 见硫化物经氧化后,其表面的原子比率常常显示硫富余;(4)在含铁的各种常见硫化物中,除黄铁 矿表面的铁相对稳定外,毒砂表面的铁也相对较稳定,而闪锌矿表面的类质同像铁却容易被氧化 而发生变化。 关键词:硫化物;X射线光电子能谱;原子比率;电子结台能;氧化 中国分类号:丹8手舌一 文赫标识码:A L r, 、 在所有现代表面分析技术中,使用最早、最广泛也是最成功的当推x射线光电子能谱(x— Photos[ectxon spec— ray forChemical troseopy Analysis简称ESCA)。XPS与其它表面分析技术相比,最显著的特点是 不仅能测定表面的组成元素,而且能确定各元素的化学态。它能检测除H、He以外周期表中 所有的元素,且具有很高的灵敏度。此外,它还有一些别的特殊用途。 1实验 ELMER ESCA PHl5400 Ka 本次研究采用的XPS谱仪是PERKIN System。用Mg (1253 峰均以样品中的Cls峰(Eb=284.6ev)作为参考进行校正,以消除荷电效应的影响。采用E— pollo计算机软件系统采集谱蜂数据.并对谱图进行处理。本次研究涉及的常见硫化物矿物包 括黄铁矿、磁黄铁矿、方铅矿、黄铜矿、闪锌矿和毒砂,主要探讨硫化物矿物新鲜表面的XPS特 征。除了{100}单晶黄铁矿的晶面外,其它样品都是在分析前现场破碎解理成颗粒状再制样进 行测试,当然这样做也不能完全排除样品中有少量颗粒保留有原来的少数非新鲜表面。样品 在空气中由于吸附或吸收,其表面污染层常达0.5nm左右,成分以碳、氧、氢为主。XPS的取 样深度为0.1-20nm,所以,其分析结果中总显示有碳和氧(Ⅺ,s不能分析氢)的存在。 啦稿日期:1999一12—17;修订日期:2000—02—01 基金项目:国家自然科学基金贷助项目;中国科学院王宽诚博士后奖励基盘项目;广东省博士后科学基盘资助项日 高校地质学报 6卷 2实验结果及讨论 2 1黄铁矿 对于绝大多数固体样品来说,表面与本体往往差异甚大口J。矿物表面的化学组成很少与 其本体完全相同,或多或少总有些差异。即使非常惰性的矿物,例如很纯的自然金、自然铂,其 表面也比其内部复杂一些【jJ。 为了鉴别晶面与新鲜断面上的成分差异,对黄铁矿分别进行了(】OO)晶面和断面的XPS 分析。从黄铁矿的全谱数据及表面各元素的原子浓度定量分析(表1)可以看出,除了黄铁矿 的本体成分(s和Fe)以外,还有O、C,未检出其它元素,说明黄铁矿样品比较纯净。对比断面 和(100)晶面的全谱,一个直观且明显的差异是,断面的s、Fe峰强度较(10

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