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F.1ertrMicrosc
电子显徽学报J.Chin Soc
352 2001年
20(41:352~353
膨胀阻燃系统残炭的结构研究
李巧玲, 叶 云
太原030051)
(华北J-学院,
无卤“膨胀”阻燃体系不含卤素,也不采用氧化锑为西效剂。含有这类阻燃剂的高聚物受热
时,表面能生成一层均匀的泡沫炭层,此层隔热、隔氧、抑烟,并能防止产生熔滴,故具有良好的阻
燃性能.且符合当今要求阻燃剂少烟、低毒的发展趋势,有良好的应用前景。本文利用扫描电子
显微镜(SEM)和x一射线光电子能谱(XPS)分析技术,得出了膨胀阻燃系统详细的残炭形貌和化
学成分,此结果对该系统阻燃机理的研究提供了重要的理论依据。
实验部分
在STANTON
REDCROFT丌A氧指数仪上,于比L01高2%的O,浓度条件下完全燃烧EVA/
MPtBPEA制得。扫描电子显微镜(SEM)分析采用HITACHIS一530型仪器。氧指数(LOI)按GB
5300
型光电子能谱仪测定,x射线源为M嫩n双阳极靶,发射功率为250W。
结果与讨论
1.阻燃剂成分及其阻燃性能
添加剂的阻燃性能用LOI和uL94垂直燃烧试验评价,结果见表1。
裹1膨胀阻燃EVA(帆一EVA)
往:己烯一醋瞅己烯共聚物(EVA);蟹胺磷酸盐(MP,);乙二胺二新戊二酵磷酸酯(BPAE);季戊四醇‘PER)。
2.阻燃EVA燃烧形成的炭屡结构及分析
阻燃EVA燃烧形成的炭层结构在扫描电镜下进行观察,结果如图1。
在几个配方的残炭中,可观察到阻燃系统所得炭的内部结构,有非常好的发泡膨胀效果,形
成膨胀、均匀、致密的结构,炭层的蜂窝结构清晰可见。SEM观察的膨胀炭结构与阻燃剂的成分
有关。僦如,图“a)中残炭外表面膨胀的最紧密、平滑、均匀;图1(c)的外表面略粗糙一些,它是
膨胀微粒凝聚而成。图1(d)中残炭截面明显可见结团的凹凸不平裂痕,孔洞是封闭的,但孔洞
较大,有凹塌现象,骨架壁不均匀;但图1(b)残炭截面的孔洞致密,壁厚坚固匀称,无规小孔直径
在15—60ttm;所以图1(a、b)所对应的4‘配方有较好的阻燃隔热效果。而阻燃剂的0。配方残炭
截面(图1(e))是条形撕裂带,没有泡沫炭形成。
图1中,膨胀炭外表面的区别,也表明聚合物材料的炭化膨胀机理取决于添加剂的化学结
构。而膨胀型阻燃剂的阻燃效果取决于生成残炭的内部结构特征,从表1中的三种添加剂可比
较其阻燃EVA的性能。
3.阻燃EVA燃烧形成炭层的光电子能谱分析
XPS分析一般采用元素灵敏度因子法对组成进行相对定量分析,利用这一方法可以估计膨
基金珥目:山西省青年科技基金资助项日
ElectrMicrosc.Soc
电子显微学报J.Chin
2001年 353
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胀炭中元素的相对浓度,
由XPS分析结果可见,4+配方残炭中相对磷、氮含量明显高于2+配方阻燃体系,即凝聚相
阻燃效果要好的多。通过上述分析,在膨胀体系中磷化合物起了重要作用,它是磷酸和多磷酸的
酸源,参与成炭过程。可提出聚磷酸(或磷酸)是EVA/MWBPEA残炭的主要成分.也可说明亚胺
二磷酸及其缩聚作用一MP,BPEA有协同阻燃作用,原因可能是缩聚形成了低挥发性的聚磷酸亚
胺类物质.能更好地保留P,促使EVA交联快速成炭,有效阻碍火焰及02的传播。这是P—N协
同的阻燃结果。
总之,在研究阻燃体系的膨胀机理和成炭阻燃机理中,SEM和XPS是很有效的分析手段
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