三点弯曲法的PBGA封装实验测试.pdfVIP

  • 57
  • 0
  • 约3.18万字
  • 约 9页
  • 2017-08-15 发布于江苏
  • 举报
维普资讯 :型量堇: 鼻 蚕 耋垦 圈 三 点弯曲法硇 PBGA封装实验测试 DennisLau。,Y.S.Chan,S.W .PickyLee,LifengFuz,Yumingye2,SangLiu2 (1.ElectronicPackagingLaboratory,CenterforAdvnacedMicrosystemsPackaging HongKongUniversityofSciencenadTechnology,ClearW aterBay,Kowloon,HongKong,China; 2.HuaweiTechnologiesCo.Ltd.,Bantien,Shenzhen,China) 摘 要 :任何 电子产品在进入市场之前

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档