ZnO压敏电阻器吸潮机理地研究.pdfVIP

ZnO压敏电阻器吸潮机理的研究 平 帅 马 睿 陕西华星压敏电阻嚣厂 712099 鞴蛋：本文在甘Zn0医敏电阻器吸潮现套的研究中发现：传统的吸潮现象 生成机理无法解释电流脉冲冲击后ZnO压敏电阻器耐鼹滑性能大为降低这一现象。 因此本文提出吸潮现象的产生并不主要取央予Zn0压敏瓷体表藤的显气孔宰，而 是主要取决于ZnO压被瓷体内部徽混结构的完整性，并钎对吸濒粉体和碾涝瓷片 提出了处理方案， 关犍词：zno压敏电阻嚣 吸湔机理 处理方案 1．引言 吸潮问题是ZnO压敏电阻嚣制造过程中的常见河题，长期以来普遍受到礴究 人员的关注，但一直漫有得到缀好的解决。早薅的研究认为：暖藕现象产生曲原 因是由于Zn0电阻片在缝成过程中Bi奎0．，Sb，0．荨杂质大量挥发留有微小的表面 开口气孔遗藏的。H，d昔子由这些气孔臣入zn0瓷体内部导致了碾商。n“”’予 是许多砑究人员开始从两方面着手解决这一河葱，”，·“，-c-，一方面从鼍方 上着手，希望通过渭整配方中8i10．、Sb-0．等杂虞的台量昶瀑加低溶