MCU测试方法地研究.pdfVIP

MCU测试方法的研究 无锡微电子科研中心 邮编214035 叶守银夏树荣 Abstract：Inthe writer the of80C51 MCUandresearched article，theanalyzedworkingprinciple ltOWlotest80C51 and 80C51MCU etfcctively；sthefocal themethodfortesting quickly point 一，前言 MCU、￡{÷：tjf』【!啦诎挎。}川措，￡柑CI’I7接u、打破器艘Ji、他再计；：jl,J51j·i干j￡集成n：一，也，具{】 兜丝的运；7r．1R{jjj力fjE。[1；讨争世抖、川I#：f·。1、记种敝多，J、约，J『L}互十糸川．，q丌个·∞种，jI．卜漉 f“品为IN；1 ：、l，、10ROIJA、I1“IIPIS、iNIf1．、111412(¨1III’苫JI+i-i：‘』031(t『，’丝0．1要为80C51、 68HC05、PIC等系别。拿球每年的川h：力“-jo亿』：．jE川的用址n2亿H左：h融，曲戎m【、圳匕{。f搜 MCtJfi：J技艇必将纸I．斯ff阶，…：【匕我{|jf】必强对MCtJ的}f．_}；_J、 和并仃再业[j功汜私J叟的小惭挺商，找fq 麒理、应川、测试方法纾深入的W究椰抓坩。^-’F多H站和义章中，已对MCU的臆螋和2e0玎作了i*钏的 阐述和深入的研究，本文将从测试的角度，以80C51为例对MCU加以埘究探讨．使我们对MCU仃型洋 细全面的认识． =，MCU的结构 等部件中的一种或几种，以增强MCU的jJJ能。 80C5I单片机包古： 1)8位的微处理{|{}CPU： 5)两个定时，计数器： El： 2)128×8的，}内数击!j：存储器RAM；6)一个垒职工uAI玎串行1]O 3)45KX 8的jL内程序存储器ROM：7)五个中断源的中断控制系统： 4)四个8位并行I／O接LJ；8)通用寄存{}{}和特殊功能寄存器等。 工作也雎范围n：18V～6V之间，封装形，℃有DIP40，QFP44，SOP40。 根据一般电路的测试原理，我们可吡按照系统结构划讣测试模块，也ar以按照lb路所实现的功能划分 测试模块．甚或按照逻辑结构划分成{艮细的测试模块．80C5lMCU不是一块简巾的逻辑电路，它足一个完 整的运算拄制系统，具订很谊的指々系统、中断结均、多种定时／计数工作方式邱多种串行通讯模式，如 何提高洲试故陴理盏牢和测试的完备性，是MCU删试开发的难点。+艮船80C5l的硬件结构和它的参数特 试：5)Ll删试(并行u，串行il)：6)巾断处删测试：7)内置自测试；8)静态参数删i-t+n+bj态参数测 试。奉文将着重i0|皂指令删试、中晰删试、ROM，川试、内白测试。 三，测试原理和测试程序 MCU的T作状态依赖十所执行的描々，整个系统的运行就足通过缕指令，执行指令，畦读指令执行 指令的连续过程米完成我们所希鹚的工作或过程。80C51拱有111条指令。按#符分类肓单字节指令49 种．双字节指令45种，三字节指令17种，按功能分类有数据传送娄28条．算术运算类24条，逻辑运算 及移位类25条，控制转移娄I7条，位操作类17条．指令测试是MCU功能测试的重受部分，除此之外， 往往是通过指令的执行或建立特殊的测试八LJ，最终达到测试的目的。 (一)1114嚣试 ， 对于MCU来说，单独测试一条指令往往是没有实际意义的，或是不可能的．我们通常以几个或几 类指令的组合．经过运行后得到一个或～组数据，井通过某些110口体现出来．这些指令的组合一般遵循 以下原则： ①组合指令执行中