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磁电可调微波器件电调频带漂移模型 陈 晴周浩淼 邓娟湖夏哲雷 中国计量学院信息工程学院,浙江杭州310018 摘要:针对磁电可调微波器件外加电场可以调节器件频带漂移的现象,该文基于经典层合板理论 及Smith-Beljers理论,建立了外电场作用下磁电层合结构铁磁共振频率漂移模型。对PZT/YIG/ GGG3层磁电层合结构,该理论模型可以在定性上有效的预测施加平行和垂直的外磁场时,电调 FMR频率漂移方向相反的实验现象,进而为磁电可调微波器件电调频带漂移现象提供了理论 基础。 关键词:磁电层合结构;应力/应变;铁磁共振;频率漂移 TN911 A 14 杭州电子科技大学学报 2012正 矢量,[Q]为刚度矩阵,fe)为压电致变矢量。本节主要研究电致3层磁电层合结构应力/应变耦合机 理,因此,将图1所示的磁电层合结构视为一个整体,则该磁电层合结构的结构应变{£)可由中面的应 变£o和曲率K表示:{£)={so)+z{K)。 层合结构上无其他外加机械力作用时,该层合结构的合力N+和合力距M‘表示为: 睁∞一㈤ ㈩ 【N’M+】=∑E,{9e)[z。一z㈧半] (2) 式中,A为拉伸刚度矩阵,B为耦合刚度矩阵,D为弯曲刚度矩阵,z,、Z:、Z,和Z。为层合结构各层的 表面相对于x—Y面的距离,z为铁氧体中面到x—Y平面的距离。因此,由式2可得到合力N‘和合力距 M+。计算式1、2,可以求得中面的应变矢量{£o)和曲率矢量{K),从而得到应变矢量{£)。铁磁层的应 力/应变本构方程为:。盯)=[”Q]{£)。于是,最后可以求得在垂直电场E,作用下的铁氧体层的应 力“仃: m (3) (Dl+D2)(A1+A2)一(B1+B2)2 图1 磁电层合结构示意图 图2 3层磁电层合结构z—Y面截面图 2应力对频率漂移影响的理论推导 对于磁电层合结构中的铁磁性薄膜,其总自由能密度可以表示为: E=E。+E:髓m蚰+Ed。m+E。。i。 (4) 式中,E。为应力能,E。。。为塞曼能,E蛔为退磁能,E=is为磁晶各项异性能。 由于研究的是YIG/PZT中外加电压导致逆压电效应产生的应力对FMR频率漂移的影响,当铁磁 性薄膜的饱和磁化强度不高时,为达到相同的FMR吸收频率必须施加更大的偏置磁场。当偏置磁场远 大于面内各向异性场时,由磁晶各项异性能造成的FMR频率漂移可忽略不计。图1中,假设偏置磁场 H与z轴的夹角为0。,与X轴夹角为‘PH,磁化强度M与z轴的夹角的方位角为0M,磁化强度与应力方 向的夹角为‘P,则式4可表示为: 7r E=一i.3人盯cos2‘P一2 (5) 式中,M为饱和磁化强度。为简化计算,将偏置磁场方向取在x—z平面内。此时,‘PH=O,且由平衡 谐振的平衡条件为: 【了J J ∞’(6) ㈡2=丽1【装一(袅v--)2】2丽【丽一【瓦丙J 第5期 陈晴等:磁电可调微波器件电调频带漂移模型 15 考虑应力沿x轴方向,结合式5、6,以及平衡时的能量最小原理,可得: (玎=【一3守cos2旷4

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