美国宇航级晶体管2N2905AL实物质量水平剖析.pdfVIP

美国宇航级晶体管2N2905AL 实物质量水平剖析 谭宗新 丁风霞 徐立生 电子十三所 石家庄050002 摘要：本文报道了对美国字航袅晶体蕾2R2905／LL进行一系列试验和检测的结果，从而 客境地反映了美国30年代初期制造的宇航级器件的实物质量水平． 引言 美田宇航级(JANS)晶体管为美国军用半导体器件中最高的产品保证等级，它体现了 分立器件的晟高质量水平．宇航级器件的制造厂要通过严格的生产认证，器件在专门生产 线上制遣，从原材料进厂检验到工序质量控制，晶片批捡验，试验和筛选等都有加严的要 求。所有的原始材料至少保留五年，每个器件都打印上唯一的序号，保证做到可追溯性． 在眦L—S一19500H半导体器件总规范中共列出了419种军用半导体器件型号，其中有 宇航级产品仅64个型号占型号总数的l麟，可见宇航级器件的制造难度之高．在美国也只 有TI，Motorola等少数著名公司能生产宇航级器件。 毳们对一批美国宇航级PNP型开关晶体管2N2905^]L实物进行了试验和检测：包括电参 数检测，镀层厚度检测，DPA分析，额定功率长期寿命试验，加速寿命试验等．从而可以 了解美国宇航级器件的实际质量水平，作为提高我圈军用半导体器件质量和可靠性水平的 借鉴． 外观和标志 特别长，达到38∞，比国内普通管的外引线长13—16m，其好处是在老亿筛选及测试过 程中不会损伤引线自}使用部位，并保证良好的可焊性． 管子顶部打印4行标记：第一行为制造厂Botorola公司的商标；第二行为OGGJS， 晰牢固． 每个管子管糟周边上一个4位编号(序号)，该号码连号的不多，说明在筛选过程 中尉豫率比较高．估计其生产批量根小．每周仅几千只． 镀层厚度检测 2N2905AL的管帽镀亮镍，底盘及外引线均电镀金．电镀层致密均匀．金层光亮．用西 德X荧光浏厚仪检测管帽壳镀镍层厚度为20m，引线镀金层厚度为3,m，镀层厚度及致密 性均匀性均高于国产管壳零件．经够小时盐雾试验后，外观光培无锈蚀，而国产管壳零 件根难通过盐雾试验． 256· 电参数检测 致性好，整批方差仅2．4V．A挡瞥要求高lk，在小电流100uA下要求大于75，实测均大 于230；在500皿^大电流下要求大于30． 实测达到50．反向电流I∞在6钾下要求小于 10hA，实测在10pA左右。各参数均留有较大余量，而且一致性非常好，反映萁工序质量 控制非常严格。另外Ic在10uA徽电流下，k还达到220，且线性好，证明其管芯表面状 态良好．而国产管在小电流下llFE很快下降． 表1和表2为任取5只样管电参敦实涮结果．测试仪器为HP4145A和TEK371。 表l 2H2如飘L m砸l HFE2 HFE3 HFE4 l环E5 盱髓 IC=10uA 编号 IC=100u^IC=lmAIC=10mAIC=100口I^IC=500m^ 4358 232 245 250 245 199 63 4372 240 252 257 252 204 53 4373 223 237 244 241 198 51 4374 231 242 248 244 200 5l 4376 237 247 252 247 204 52 平蚜值 233．6 244．6 250．2