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第9届全酉棱电予学与棱探测技术学术年会论文集
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俘获探测器的研制和应用
王大伦陈素和励义俊
(中国工程物理研究院校物理与化学研究所,成都525信箱,6l0003)
为了在弱中子辐中和有限的小空间内舅量绝对裂变车,研倒了具有高空问分辨皇力和较膏探测效率的
。俘获探■器-.。俘获探铡器’的基本原理是t由5m吼至lo哪∞的囊磨片-将在■材料中产生的裂变产钿收集
到聚脂片内.捌量素脂片中裂变产橱斌射的积:j}T活性,根据T—l捌虚因子将T活性转化为绝对裂变事.在
工程模拟宴验中.用这种探撼器嗣量了反磊中于效应,实验值和理论计算值在羹量误差内符台得框好.
关健调。俘获探嚣嚣裂变率
1引言
在某些中子学积分实验和工程模拟实验中,要求在有限小的空间内和弱中子墙下测量绝
对裂变率.这样小型裂变室等一些裂变探测器就不能用于这种条件下的裂变率测量.为此我
们研制丁。俘获探测器”,实验结果表明:用这种。俘获探测器”澍量裂变率简单可行,满足实验
测量的需要.
2“俘获探测器”的基本原理
“俘获探测器”测量绝对裂变率的基本原理是:将裂变材料发 P抒
射的裂变碎片捕集到有机薄膜上,通过测量裂变碎片的积分7活
性和预先刻度好的7活性和裂变率f闻的转换因子.得到绝对裂 定位坪, .俘联片
群7t≯蛞
变率.俘获探潮器的使用见图1. 碳
贫化铀材料或天然铀材料可以使用铀片(小于o.5mm厚)或
蚰镀片做靶(4U材料使用镀片).但多数还是使用铀镀片做靶,
铀镀片的馈层背对背饺于金属底衬两面,我们使用镀层的尺寸为 图1俘获探涮嚣的使用
≯24∞.选用俘获片时要考虑如下因素。(1)中子在俘获片上产生 方式示t圉
不了活化的1本底,或产生的7本底可忽略.(2)俘获片的厚度要大于裂变碎片的最大射程.
(3)俘获片的机械性能要满足要求.因此我们选用了聚脂等一些有机薄膜做为俘获片.厚度
50pm至100pm为宣.为克服边界效应的影响,选用了尺寸为●30∞的俘获片.定位环为保
证≠24mm的铀片定位于,30m俘获片的中心,以克服边界效应的影响和保证7活性测量的
重复性.保护片是在周围有铀材料时使用,以防止周围铀材料产生的裂变碎片进入俘获片中.
俘获探测器的使甩方式如图1所示.在中于场中照射后。取出铀片或铀镀片。并用7探测
器测量聚脂片俘获的裂变产物的7活性.由于仅测量聚脂片俘获的裂变产物的7活性,所以就
影响.(2)避免了铀镀片底村材料由中子产生的T本底的影响.(3)保证了铀片或铀镀片可以
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反复使用.
3 y一,刻度因子的测量
用7探测器测出的聚脂薄膜收集到的裂变产物7活性正
比于裂变反应的绝对裂变率,有如下关系t
Ⅳl=EⅣT (1)
式中Ⅳ{为裂变反应的绝对裂变率(s1·mg-1)IⅣr为单
位时问内T探测器所测到的由俘获片发射的7积分计数
(s_1).系数a可预先使用裂变室和俘获探测器相组合的方法
测出.裂变窒和俘获探测嚣的组合方式有两种t(1)裂变室内
的组合.见图2.(2)裂变室外的组合t见圈3.
组合后的裂变室和俘获片在中子场下计数,按着裂变室饺
层的绝对质量和绝对裂变计数[1加给出裂变率,由铀片或相应
铀镀片(所有铀镀片都归一到同一质量下)的积分7计数得到
刻度因子a值.不同能量的入射中子.使各种裂变产物的产额
不同.使俘获片收集到的裂变产物T活性相应的发生变化,致
使刻度因子a和入射中子能量有关.但由于测量的是积分7活
性,所以中子能量的变化对积分7活性的影响不明显.
在14MeV中子和裂变中子混合场中测量了a值,实验结
果见表1.
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