一种提高可靠性预计准确性方法的探讨.pdfVIP

中国计算机学会 第十二届计算机工程与工艺学术年会 一种提高可靠性预计准确性方法的探讨 theMethodto Precisionof Discussionon Improving Reliability Prediction 吕春阳 刘耀宰 Lue LiuYao Chunyang (江南计算技术研究所江苏无锡214083) Institute Technology,Wuxi，Jiangsu,214083) (JiangnanofComputing 摘 要：依据预计手册进行可靠性预计存在严重的不准确问题，这种方法的效能越来越多地受到专业人士的怀疑。但 是由于该方法诸多的优点，在可靠性预计过程中仍得到广泛应用。本文探讨通过相似系统法与手册预计法相结合来有 效提高预计准确度的途径。 关键字：可靠性；可靠性预计：相似系统；失效率 l引言 2手册可靠性预计法的局限性 产品可靠性预计和分析是产品研发过程中 众多的预计实践证明，采用手册中的预计方 的重要工作。可靠性预计主要有两个目的，一是 法获得的预计结果与实际实验结果偏差可达数 对系统可靠性指标的评估，通过它可以判断目标 倍甚至几十倍。由于预计可靠性与实际可靠性的 系统是否能够在规定的时间内稳定可靠的运行， 不匹配，这种方法的效能越来越多地受到专业人 为设计决策提供依据。还可比较不同设计方案的 士的怀疑，甚至有人认为该预计方法一无是处。 可靠性水平，为方案选择及方案优化提供依据。 那么，是什么原因造成了预计偏差呢? 其二在产品开发的初期阶段通过可靠性预计， 通过分析可以发现，手册中可靠性预计方法 可以知道所设计的产品或单元可能达到的可靠 的基础源于可靠性统计数据和元器件可靠性模 性水平，发现可靠性的薄弱环节及工程设计中 型两个方面。可靠性统计数据是基于历史数据和 存在的问题(如元器件选用是否合理、降额系数 经验观察，所有数据是基于工业部门的平均水平 选择是否恰当、电路稳定性设计是否合理等)， 制定的。而元器件可靠性模型是假设电子元器件 从而有针对性地采取一些改进措施，使产品达到 失效主要与温度相关，遵从阿伦纽斯(Arrhenius) 规定的可靠性要求。 的温度指数分布规律。但是也正是模型和数据这 在可靠性预计过程中，人们普遍采用美军标 两个方面的不完备性导致了预计的不准确性。造 MIL-HDBK-217《电子设备可靠性预计手册》[1]成预计偏差的主要因素可归纳为如下几个方面： 或国内等同标准GJB／Z299《电子设备可靠性预计 2．1手册给出的可靠性预计方法是以电子元器件 手册》(以下统一简称“手册”)提供的方法和数 失效作为评判基础的，也就是所有导致可靠性问 据进行产品的可靠性预计。但是依据预计手册进 题的唯一原因是电子元器件失效。但许多电子设 行可靠性预计存在严重的不准确问题。用这种预 备的失效并不完全由元器件的失效而引起，而是 计方法得到的结果去指导产品设计的可行性决 其它原因所造成的。如设计、制造工艺、电磁兼 策、部件的选择和使用、产品的维修策略等会起