N_K多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用.pdfVIP

第 25 卷 　第 4 期 液 　晶　与 　显 　示 Vol25 ,No4 20 10 年 8 月 Chinese J ournal of Liquid Cry st al s and Di sp lays Aug . ,20 10 文章编号 (20 10) N K 多功能薄膜分析仪在 OL ED 失效分析中的应用 陈　柳 , 俞宏坤 , 曾　韡 ,彭雅芳 ( 复旦大学 材料科学系 , 上海 　200433) 摘 　要 : 使用 N K 多功能薄膜分析仪对 OL ED 的结构进行分析 ,对比了不同时间室温老化实验样品的反射 率波谱 。对反射率进行计算拟合 ,得到 OL ED 的多层膜结构信息 。对相同室温老化实验条件下的完好器件 和失效器件的结构进行了对比 ,发现对于结构为 ITO/ N PB/ Alq / L i F/ Al 的器件 ,主要是 Alq 和 Li F 层发生 3 3 变化引起器件失效 。由此也证明使用 N K 多功能薄膜分析仪是 OL ED 失效分析的有效手段 。 关 　键 　词 : 有机电致发光器件 ; N K 多功能薄膜分析仪 ;失效分析 中图分类号 : TN 383 + . 1 　　　文献标识码 : A N K Analyzer in OL ED Fail ure Analysis C H EN Liu , YU Hongkun , ZEN G Wei , P EN G Yaf ang ( ) D ep art ment of M ateri als S cience , F u d an Uni vers ity , S hang hai 　200433 , Chi na Abstract : The st r uct ure of OL ED wa s st udied by N K analyzer and t he reflect ance sp ect r um of samp le s in diff erent time duration were co mp ared . The layer s t hickne ss infor mation in t hi s OL ED , wit h a st ruct ure of I TO/ N PB/ Alq / Li F/ Al , can be obt ained by calculatin g and da 3 t um fit ting . By co mp aring t he st ruct ure of different samp le s , it i s found t hat t he main rea son of device failure lie s in Alq3 and Li F layer . Thi s al so in dicat e s t hat N K analy si s i s an effec tive met ho d for OL ED failure re search . Key w