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第 32 卷 第 2 期 高 　电　压 　技 　术 Vol . 32 No . 2 　　 2006 年 　　2 月 High Volt age Engineering Feb . 　2006 1·01 · 现场经验与技术交流 试验引起 CVT 损坏的原因及预防措施 Analysis of CVT Faults Caused by Test and Some Precaution Suggestions 倪学锋 , 林 　浩 (武汉高压研究所 ,武汉 430074) 摘 　要 : CV T 因结构和工作原理的特殊性 ,常常会因试验方法不当而损坏 。从 CV T 的基本原理入手 ,分析 自激 法测量 CV T 的介损和电容量以及现场局部放电试验损坏原因 ,并提出在试验中控制所加电压和注入电流的方法 来避免 CV T 的损坏 ,供运行试验单位借鉴 ,对提高 CV T 的运行可靠性有重要的意义 。 关键词 : CV T ; 中间变压器 ; 谐振 ; 补偿电抗 中图分类号 : TM45 12 文献标识码 : B 文章编号 :(2006) 020 10 103 0 　引　言 ( ) CV T 电容式电压互感器 因结构和工作原理 的特殊性 ,相关试验标准及试验方法不完善甚至错 误 ,导致现场 CV T 试验损坏 。作者 曾在文章及其 它学术场合指出自激法测量 CV T 的电容量及介损 存在的问题和解决方法 。对抑制 自激法测量 CV T 图 1 　CVT 结构原理图 中导致损坏的现象起到了一定作用 。但近年来试验 电压稳定 。分压比不变的条件是 I C1 = I C2 , 即 I = 0 , 人员新老更换较快 ,现场试验又出现了新方法 ,导致 即无技术措施时, 电容分压器无负载能力 。解决这 CV T 因试验而损坏的情况仍时有发生 。故有必要 个问题的技术措施有两 :一是利用电容电流与电感 进一步分析不同试验方法引起 CV T 损坏的原因和 电流互补的关系, 加装 电感补偿; 二是提高中间电 预防措施 。 压, 减小 I/ IC1 的值 ,这就是 CV T 不直接将电压分压 1 　CVT 的结构及工作原理 到所需的 100 V 或 100/ 3 V 的原因。 1 1 　结构及部件作用 图 1 的 T 的等值电路见图 2[ 1 ] , Z 为外部负荷 结构及部件原理见图 1 。由两部分构成 , ①点 阻抗, Zm 为中压变励阻抗 ,因 Zm Z , 忽略 Zm 。 画线内的电容分压器部分 , ②虚线内电磁单元部分 。 X k = ω(L + L T1 + L T2) , rk = RL + rT1 + rT2 , X C = 1/ ω( C + C ) , K = C / ( C + C ) ,可得 C1 与 C2 串联构成分压器 ,经分压器后 C2 上的电压 1 2 1 1 2