数电实验之移位寄存器.docVIP

移位寄存器 一 实验目的 1．学习用D触发器构成移位寄存器（环行计数器） 2．掌握中规模集成电路双向移位寄存器逻辑功能及使用方法 二 实验原理 用4个D触发器组成4位移位寄存器，将每位即各D触发器的输出Q1、Q2、Q3、Q4分别接到四个0—1指示器（LED）将最后一位输出Q4反馈接到第一位D触发器的输入端，则构成一简单的四位移位环行计数器。 移位寄存器具有移位功能，是指寄存器中所存的代码能够在时钟脉冲的作用下依次左移或右移。对于即能左移又能右移的寄存器称为双向移位寄存器。只需要改变左移、右移的控制信号便可实现双向移位的要求。根据移位寄存器存取信息的方式不同分为：串入串出、串入并出、并入串出、并入并出四种形式。 本实验选用的4位双向移位寄存器，型号为74LS194A（或CD40194），两者功能相同，其引脚分布图如下图18.1所示： 其中A、B、C、D为并行输入端，A为高位依次排列；QA、QB、QC、QD为并行输出端；SR为右移串行输入端；SL为左移串行输入端；S1、S0为操作模式控制端；CLR为异步清零端；低电平有效；CLK为CP时钟脉冲输入端。 74LS194A有5种工作模式：并行输入，右移（QD→QA），左移（QD←QA）， 保持和清零。 74LS194功能表如表18.1所示： CLR CP S1 S0 工作状态 0 1 1 1 1 X X ↑ ↑ ↑ X X 0 0 1 0 1 1 置零 保持 右移，SR为串行输入，QA为串行输出 左移，SL为串行输入， QD为串行输出 并行输入 表18.1 三 实验器件 数字实验箱 集成电路芯片： 74LS74×2 （CD4013×2）；74LS75 ；74LS76 ； 74LS194A（CD40194）。 图18.1 四 实验内容 1.用74LS74组成移位寄存器，使第一个输出端点亮LED并使其右移循环。顺序是FF1、FF2、FF3、FF4。 A) 1. 用两个74LS74按图18.2连接： 图18.2 1. CP时钟输入先不接到电路中（单步脉冲源或连续脉冲源）； 连接线路完毕，检查无误后加+5V电源； 观察4个输出端的LED应该是不亮的，如果有亮的话，应按清零端的逻辑开关，（给出一个低电平信号清零后，再将开关置于高电平）即将4个D触发器输出端的LED清零。 将第一个D触发器通过预置端（PRE）置“1”（操作时注意先将该逻辑开关给一低电平，然后再回到高电平，此时LED1应亮。 加入CP脉冲信号（手动控制的单步脉冲源或1HZ连续脉冲源的信号），此时应看到输出端LED发亮的顺序为LED1→LED2 →LED3→ LED4 →LED1，即输出端显示移位循环一个高电平“1”。 B） *测试74LS194 （或CD40194）的逻辑功能 请按下面要求接线： （CLR）、S1、S0、SL、SR、D3、D2、D1、D0分别接到逻辑开关，QD、CC、QB、QA接到0—1指示器，CP脉冲接到单次脉冲源输出插口。 然后请按下表规定的输入状态，逐项进行测试，并将测试结果和功能总结填入表18.2中。 清零 模式 时钟 串行 输入 输出 功能 CLR S1 S0 CP SL SR D C B A QD QC QB QA 0 1 1 1 1 X X 1 1 0 1 1 0 0 0 X ↑ ↑↑ ↑ X X X 0 X 1 1 0 X X X X X X D C B A X X X X X X X X X X X X 表18.2 1.清零： 令CLR（）=0，其它输入为任意态，此时寄存器输出QD、 QC 、QB、QA应均为0然后使CLR（）=1。即该寄存器为异步复位且响应CLR（）的低电平。 2．并行输入： 令CLR（）=S1=S0=1，输入任意4位二进制数，如D3、D2、D1、D0=abcd，加上CP脉冲，观察寄存器输出状态的变化是否发生在CP脉冲的上升沿，输出是否为abcd，即寄存器在进行装载的功能。 3．右移： 清零后，令=1，S1=0，S0=1，由右移输入端SR送入二进制数码0100，在CP脉冲上升沿的作用下（给一次信号按动一次脉冲）观察输出情况是否将输入信号进行右移，流向是SR→QA →QB→ QC→ QD。如若不是，请检查并改正为右移传输信号。 图18.3为74LS194执行右移传输信号逻辑功能： 图18.3 4．左