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第 2O卷第 10期 强 激 光 与 粒 子 束 Vo1.20,NO.10
2008年 10月 HIGH POW ER LASER AND PARTICLE BEAM S oct.,2008
一一vⅢ 。
文章编号 : 100卜4322(2008)10—1704~03 6 5 4 3
BEPClI正电子环真空度随流强的非线性变化
肖 琼, 彭晓华
(中国科学 院 高能物理研究所 ,北京 100049)
摘 要 : 观察发现负电子环 的真空度随流强呈线性变化 ,正 电子环的真空度随流强呈非线性变化 ,在正
电子环的弧区,真空度的非线性变化很 明显 。讨论了非线性变化的原因,可能是同步光电子在正 电子束流横 向
作用下加速碰壁 ,发生 了二次电子发射,并在一定条件下形成 了束流引起的多次碰壁效应 ,造成 了大量放气 。
改变正电子柬流的柬团填充方式来观察真空度的非线性变化 ,得到了与 KEK—B低能环一致的实验结果,该非
线性变化呈现一定的阈值性,发生非线性的条件是有足够大的单束 团流强和每列足够多的连续束团。
关键词 : BEPCⅡ; 束流 引起的多次碰壁效应 ; 二次电子 ; 单柬团流强 ; 束团填充方式
中图分类号 : TI594 文献标 志码 : A
电子云不稳定性 (ECI)是一种正电子束流独有的耦合束团横向不稳定性效应 ,它的形成与束流引起的多
次碰壁效应(BIM)相关 。通过监测正电子储存环真空度的变化,有可能观察到 BIM 现象的发生 。在不同
束流条件下观察真空度 的非线性变化 ,可以了解 BIM 与流强 以及束 团填充方式的变化关系。PEP-Ⅱ 和
KEK~B 等加速器都从真空角度对 BIM进行了观察 ,并且都观察到了正电子储存环真空度随流强的非线性变
化。北京正负电子对撞机重大改造工程 (BEPCⅡ)的正负电子环的结构具有对称性 ,本文从正负电子环真空
度的对比人手来研究正电子环真空度随流强的非线性变化。仿照 KEK—B低能环的实验方法 改变束团填充
方式,观察到了与其类似的非线性变化规律,并进行了解释。
l 实验现象
1.1 正负电子环真空度的差异
在 BEPCⅡ对撞模式(1.89GeV)运行中,我们观察了两轮正负电子环真空清扫的情况 。在第一轮对撞调
试 中,运行流强较低 (低于120mA),两环的p/I值在积分流强提高之后趋近 (图1)。在第二轮对撞调试 中,运
行流强比第一轮提高后 (150mA 以上),正电子环的p/I值明显高于负电子环 (图2)。
O8
06
O4
02
O
0 10 20 30 40 50 0 20 40 60 8O l00 l2O
beamdoseffAh· beamdose~Ah·1
Fig.1 Vacuum cleaninginphase1(1owercurrent) Fig.2 Vacuum cleaninginphase2(highercurrent)
图 1 第一轮运行时的真空清扫 (运行流强较低) 图 2 第二轮运行时的真空清扫(运行流强提高)
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