80C51控制器测试.docVIP

测试飞利浦80C51微控制器 M. H. Konijnenburg J.Th. van der Linden A.J. van de Goor 信息技术部和系统代尔夫特科技大学，代尔夫特，荷兰 本文介绍了飞利浦8C51微控制器研究成果本研究为了节省芯片面积和测试应用时间（即减少） ，并评估工业时序生成系统时序电路代尔夫特自动测试效率 ，80C51 。 已顺序完全版（非） ，并在几个局部扫描版本。该固定性全扫描版本故障覆盖率是91 ％而故障覆盖率的非扫描版本是几乎为零。因此，配合部分扫描版本的已经制定了以实现该故障覆盖率水平的全面扫描版本。实验结果表明，几乎50 ％的增大视角提高透光效率边缘场开关技术必须全扫描版本覆盖。FFs完成选择扫描％该故障覆盖率减少％本文飞利浦80C51测试模ATPG ）。 ATPG已执行全扫描， 局部扫描，和80C51非扫描版本。在本节中，飞利浦80C51动机目标我们的结论 图1 8051单片机系列广泛的应用于各种领域 该飞利浦80C51 包括8及16位微控制器，适用于电子广泛应用，如无绳和电话，远程控制电视， 录音机，汽车，照明系统，医疗系统等（见图1 ） 。作为一个“独立” ，也作为核心嵌入更复杂的集成电路，是基于CMOS作为以及沟道在栅电压控制下p型衬底反型变成n沟道，靠电子的流动技术。该80C51系列许多类型，版本和变种。每致力于应用，某些性能特点得到了优化（例如，低功耗，低电压，高速） ，独特性能/功能（例如，记忆体的大小和类型： 的RAM ， ROM的， ;特殊接口）或职能。 举例来说， 80C51电路适用于手提电话优化电力消费;这些集成电路的职能要关闭部分电路。80C51是研究（见第2的详细说明）。在过去，很多的努力已用于改善时序电路测试生成，以达到更高的和高效率的故障89 (基准时序电路) 。过， 89基准电路只有基于实时工业电路; 他们已被修改，使他们部分无法辨认。此外，大多数的基准电路比较真正的工业电路规模小。因此，从我们大学的角度来看，是评价80C51自动测试模式生成电路， 一个真正的工业电路。在全扫描形成电路提供了独特的挑战ATPG ，因为设计是一个副本原件定制逻辑集成电路，实施在标准单元的形式;例如，广泛的重构必须使全扫描版本适合为ATPG（见第2条） 。从飞利浦来看，还有另外一个动机：目前， 80C51是运与全扫描; ATPG系统组合逻辑电路，能在产生了。不过，节省芯片面积，使数量庞大的（ 80C51是用来在许多），可以生产成本也更低。此外， SFFs可能会引入一些额外的延迟相比 正常 （ ） ，。这有可能成为特别重要的未来一代产品。此外， 序贯式测试可以节省上测试应用程序的时间， 当较小或没有SFFs使用，因为较小或没有扫描测试向量流入及流出SFFs。因此，这项研究另一种动机是评价顺序测试的80C51电路。 目标是要选择SFFs和FFs ，同时还保持了该80C51故障覆盖率。这项研究已进行使用代尔夫特自动测试（数据）生成系统集成电路。 ATPG已一个近全扫描版本，以及一个完全序贯版本（非扫描）的80 C51 非扫描版是从全扫描版本取代所有与D - 。该版本的80C51故障覆盖率是91 ％以上，而故障覆盖率的非扫描版本是几乎为零（见分别为第3和第4条） 。因此， 准系统的选择已经表现，以增加故障覆盖到故障覆盖率水平的全面扫描版本。 FFs已选定的基础上， 信号线，。该电路可分为若干个模块。 ATPG已对全扫描和非扫描版本的这些模块， 以确定其顺序测试。模块使用这些测试生成的结果，在80 C51也执行准系统的选择。这项研究已进行符合以下假设：在局部扫描版本， 80C51 有一个主时钟和测试时钟。测试时钟控制该SFFs为转移的行动。主时钟停止时， 在扫描的非扫描FFs不改变。另一个假设是，该FFs没有异步（重）载能力。那个80 C51有7 FFs与异步（重新）设置结果ATPG同（近）全扫描版本展示这种影响（故障覆盖率 91 ％ ） 。因此，当80 C51运作，在测试模式重置PIN是保持。所有实验已表现在HP 机器与1.5 GB的主要记忆体下在HP - UX 10.20这份安排如下： 第2条中描述了审查版本的80 C51 。 第3节介绍了测试生成的结果为全扫描版本的80 C51和它的一些模块。第4条对于非扫描 版本提出的结果。第5条描述了扫描的挑选方法并介绍了它们对ATPG80 C51 和若干模块。第6总结结果，并得出这项研究结论。2 飞利浦80 C51微控制器节描述80 C51电路研究。重要80 C51为核心（见图2 ） ， 构成的8位CPU ， 32双向1 / 0线在4个口，两个16位定时器/计数器， 128字节机载数据的RAM ，面积字节的单晶片程式光碟记忆